[发明专利]一种有机修饰的疏水型纳米固体酸材料及其制备有效
申请号: | 201210436131.5 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN103801394A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 徐杰;石松;陈晨;王敏;郑玺;马继平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | B01J31/02 | 分类号: | B01J31/02;C07D307/46 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 马驰 |
地址: | 116023 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 一种有机修饰的疏水型纳米固体酸材料的制备,以SiO2微球为基底,在其表面上枝接酸性基团和疏水性基团;其可以采用通式AcHg-SiO2来表示,Ac为Acid的缩写,Hg为Hydrophobic group的缩写;其中Ac包括丙基磺酸基,乙基磺酸基,苯基磺酸基,四氟苯基磺酸基中的一种或两种以上,疏水性基团为甲基、乙基、丙基、乙烯基、氯丙烯基、萘基、苯基、三氟丙基、一氟苯基和五氟苯基中的一种或两种以上。该材料合成过程简单,容易控制。由于该材料同时具有酸性位和疏水的特性,因此该材料在催化方面有着广阔的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 有机 修饰 疏水 纳米 固体 材料 及其 制备 | ||
【主权项】:
一种有机修饰的疏水型纳米固体酸材料,以SiO2微球为基底,在其表面上枝接酸性基团和疏水性的基团;其可以采用通式AcHg‑SiO2来表示,Ac为Acid的缩写,为表面上的酸性基团;Hg为Hydrophobic group的缩写,为表面上的疏水性基团;其中Ac包括丙基磺酸基、乙基磺酸基、苯基磺酸基和四氟苯基磺酸基中的一种或二种以上,疏水性基团为甲基、乙基、丙基、乙烯基、氯丙烯基、萘基、苯基、三氟丙基、一氟苯基和五氟苯基中的一种或二种以上。
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