[发明专利]提高ITO透明导电薄膜表面功函数的方法及其应用有效

专利信息
申请号: 201210429478.7 申请日: 2012-10-31
公开(公告)号: CN102945693A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 邱勇;赵炎;段炼 申请(专利权)人: 清华大学;昆山维信诺显示技术有限公司;北京维信诺科技有限公司
主分类号: H01B5/14 分类号: H01B5/14;H01B13/00;H01L51/52;H01L51/54
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 寇海侠
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种通过卤化ITO以提高ITO透明导电薄膜表面功函数的方法,及该种ITO透明导电薄膜在OLED中的应用。所述方法是将过氧化物在紫外光照下产生羟基自由基,有机卤代化合物受羟基自由基攻击,卤素原子相继被羟基亲核取代,卤素自由基在ITO表面形成In-X键。所述混合溶液中的过氧化物加速了In-X键的形成,紫外光处理时间短,降低了制备成本;本发明在常温常压下即可进行反应,反应条件温和,工艺简单。制备的ITO透明导电薄膜表面功函数高。运用所述ITO透明导电薄膜的OLED,可以有效的实现空穴注入,而无需引入空穴注入层,不但简化了器件结构、降低了成本,而且还提高器件的性能。
搜索关键词: 提高 ito 透明 导电 薄膜 表面 函数 方法 及其 应用
【主权项】:
一种提高ITO透明导电薄膜表面功函数的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:在有机卤代化合物中加入过氧化物水溶液,有机卤代化合物与过氧化物的摩尔比为1:1‑4:1,充分混合;S2:在ITO玻璃基板的ITO表面铺满步骤S1中所制的混合溶液,再置于紫外灯下进行光照;S3:取出步骤S2中紫外光处理后的ITO玻璃基板,用溶剂进行冲洗,干燥;S4:将步骤S3中处理好的ITO基板用紫外臭氧处理0‑5分钟,获得卤化ITO透明导电薄膜。
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