[发明专利]微光像增强器组件反馈离子测试装置及方法无效
| 申请号： | 201210405060.2 | 申请日： | 2012-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN102879316A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 李野;秦旭磊;付申成;端木庆铎 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01R19/00 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 李晓莉 |
| 地址： | 130012 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 微光像增强器组件反馈离子测试装置及方法，属于光电成像器件领域，包括聚焦紫外光源、真空室、无阴极微光像增强器组件、离子导管、离子探测器、屏蔽盒；方法是：聚焦紫外光源通过紫外窗口入射到微通道板表面，激发出的电子使微光像增强器组件工作，微光像增强器组件中产生的反馈离子经加速后，经离子导管、隔离栅网进入离子探测器，输出信号经电荷放大器放大后输入到多道脉冲幅度分析器，通过脉冲幅度分析将离子脉冲信号与噪声信号进行分离，得到反馈离子脉冲信号幅度值，然后将信号幅值做为阈值输入到单道谱仪中，实现离子脉冲计数。该装置能够实现复杂电磁环境下的极微弱离子流检测，用于微光像增强器中防离子反馈膜离子阻透特性的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 微光 增强 组件 反馈 离子 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种微光像增强器组件反馈离子测试装置，其特征是：包括聚焦紫外光源（1）、真空室（3）、无阴极微光像增强器组件（4）、离子导管（7）、离子探测器（8）、屏蔽盒（9）；所述的真空室（3）设置有紫外窗口（2），真空室内部的无阴极微光像增强器组件（4）斜上方对准离子导管（7）；所述的屏蔽盒（9）内置有电场隔离栅网（5）、光阑（6）和离子探测器（8），所述离子探测器（8）与电荷放大器（10）连接；所述的电荷放大器分别与多道脉冲幅度分析器（11）、单道谱仪（12）连接；所述无阴极微光像增强器组件（4）和离子探测器（8）中间设置离子导管（7）、电场隔离网（5）和光阑（6）。
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