[发明专利]一种ESD电路保护结构有效

专利信息
申请号: 201210133340.2 申请日: 2012-04-28
公开(公告)号: CN103036220A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 邓樟鹏;苏庆 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H02H9/00 分类号: H02H9/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种ESD电路保护结构,包括:ESD信号判断电路,其端口一接电源,端口二接信号选择电路,端口三接IO端,能检测判断IO端是否有ESD事件发生,并输出判断信号至所述信号选择电路;信号选择电路,其端口一、端口二分别连接所述ESD信号判断电路的端口二和内部电路的控制信号,其端口三输出信号至驱动NMOS的栅极;其能对输入信号进行选择,当判断IO端有ESD事件发生,其输出信号为低电平;当判断IO端无ESD事件发生,其输出信号为内部电路的控制信号;驱动NMOS,其漏极接IO端,其源极接地;ESD NMOS,其栅极通过一电阻接地,其漏极接IO端,其源极接地。本发明的ESD保护结构能解决现有IO ESD保护电路在驱动NMOS导通态下无法有效保护电路的问题。
搜索关键词: 一种 esd 电路 保护 结构
【主权项】:
一种ESD电路保护结构,其特征是,包括:ESD信号判断电路,其端口一接电源,端口二接信号选择电路,端口三接IO端,能检测判断IO端是否有ESD事件发生,并输出判断信号至所述信号选择电路;信号选择电路,其端口一、端口二分别连接所述ESD信号判断电路的端口二和内部电路的控制信号,其端口三输出信号至驱动NMOS的栅极;其能对输入信号进行选择,当判断IO端有ESD事件发生,其输出信号为低电平;当判断IO端无ESD事件发生,其输出信号为内部电路的控制信号;驱动NMOS,其漏极接IO端,其源极接地;ESD NMOS,其栅极通过一电阻接地,其漏极接IO端,其源极接地。
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