[发明专利]静电防护器件及其制造工艺有效

专利信息
申请号: 201210102462.5 申请日: 2012-04-09
公开(公告)号: CN102623452A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 姜一波;杜寰 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H02H9/04
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及半导体制造领域,公开了一种静电防护器件,包括可控硅器件、MOS管器件;所述可控硅器件与所述MOS管器件串联。本申请还公开了一种静电防护器件的制造工艺,包括在半导体基底上制成可控硅器件;在所述可控硅器件附近制成MOS管;将可控硅器件与MOS管器件串联。所述静电防护器件兼有可控硅极小寄生电容和MOS器件高维持电压的特点可应用在高压射频电子电路或器件的静电保护等方面。
搜索关键词: 静电 防护 器件 及其 制造 工艺
【主权项】:
一种静电防护器件,其特征在于,包括:可控硅器件、MOS管器件;所述可控硅器件与所述MOS管串联。
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