[发明专利]用于检测PCB板件平整性的方法和装置有效
| 申请号： | 201210092885.3 | 申请日： | 2012-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN103363928A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 陈臣;苏新虹 | 申请（专利权）人： | 北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐 |
| 地址： | 100871 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于检测PCB板件平整性的方法，包括：将PCB板件水平放置，在PCB板件的垂直上方设置测距装置；通过将PCB板件水平移动，利用测距装置测量到PCB板件表面上多个点的距离；对多个点的距离进行分析，以确定PCB板件的平整度。本发明提供了一种用于检测PCB板件平整性的装置，包括：工作台，用于水平夹持及移动PCB板件，以及将测距装置固定在PCB板件的垂直上方；测距装置，用于测量到PCB板件表面上多个点的距离；分析装置，用于对多个点的距离进行分析，以确定PCB板件的平整度。本发明简单经济地实现了PCB板件的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 pcb 平整 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检测PCB板件平整性的方法，其特征在于，包括：将所述PCB板件水平放置，在所述PCB板件的垂直上方设置测距装置；通过将所述PCB板件水平移动，利用所述测距装置测量到所述PCB板件表面上多个点的距离；对所述多个点的距离进行分析，以确定所述PCB板件的平整度。
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