[发明专利]一种使用铟和微针锥结构的热压缩芯片低温互连方法有效

专利信息
申请号: 201210085337.8 申请日: 2012-03-28
公开(公告)号: CN102543783A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 李明;胡安民;陈卓 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种使用铟和微针锥结构的热压缩芯片低温互连方法,包括芯片到基片,及芯片与芯片堆叠互连方法,在芯片焊盘制备表面覆盖有金属铟薄层的针锥阵列层,并将其与带有第二金属凸点的基片接触施压,随后加热至铟熔点之上保持一定时间,利用熔融的铟填充针锥与第二金属镶嵌的间隙,并与第二金属之间产生固液反应生成高熔点金属间化合物,从而消耗铟层来实现紧密键合,该方法通用性强,无需助焊剂,工艺流程简单,能明显降低现有倒装焊工艺温度。
搜索关键词: 一种 使用 微针锥 结构 压缩 芯片 低温 互连 方法
【主权项】:
一种使用铟和微针锥结构的热压缩芯片低温互连方法,其特征在于,包括芯片到基片的粘接互连方法,或者芯片与芯片的叠层垂直互连方法,其步骤如下:1)、选择表面具有电互连焊盘金属块的第一芯片;2)、选择具有与第一芯片电互连焊盘区域相对应焊盘的基片或第二芯片;3)、在第一芯片焊盘区域制备镍微针锥层及铟层;4)、在基片或者第二芯片焊盘区域制备金属凸点,包括下层的第一金属柱和表面覆盖的第二金属帽;5)、接合第一芯片与基片,或者第一芯片与第二芯片,包括将第一芯片和基片表面对准,或者第一芯片和第二芯片表面对准,使得多个带有金属帽的凸点与芯片表面上各个微针锥区域匹配;以及把接触区域加热到一定的温度,并使两侧接触压缩以完成第一芯片到基片的焊盘区域电互连键合,或者第一芯片到第二芯片的叠层垂直互连。
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