[发明专利]一种高功率激光光束取样器及高功率激光光束测量系统有效

专利信息
申请号: 201210079987.1 申请日: 2012-03-23
公开(公告)号: CN102620817A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 吴勇;杨鹏翎;陈绍武;王平;王振宝;武俊杰;刘福华;冯国斌;叶锡生 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04;G01J1/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710024 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种高功率激光光束取样器及高功率激光光束测量系统,取样器包括多根光纤和层叠排布的介质平板,介质平板上加工多个并行排布的L形凹槽阵列,光纤设置在L形凹槽内,光纤入射端迎着激光入射方向,输出端偏离激光光束。测量系统包括高功率激光光束取样器、多个探测器、信号处理电路和数据采集处理单元。测量系统中采用介质板叠加并压紧光纤的方法,避免了涂覆材料或胶等有机物对激光的吸收导致取样器的损坏,提高了取样器的抗激光损伤阈值,同时在应用中绝大部分激光透射,只对少部分光束进行取样,降低了系统承受激光辐照的要求,且后续的光束可以再次利用。
搜索关键词: 一种 功率 激光 光束 取样 测量 系统
【主权项】:
一种高功率激光光束取样器,其特征在于:包括多根光纤和多个沿激光入射方向平行且层叠排布的介质平板;所述相邻介质平板间设置有多个并行排布的带圆弧过渡的L形凹槽;所述多根光纤分别设置在相应的L形凹槽内;所述光纤包括入射端和输出端,其入射端迎着激光入射方向,其输出端与取样器外部的探测器相连;所述光纤为去除涂敷层的裸光纤;所述的介质平板和光纤对激光高透射。
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