[发明专利]电光系数测量装置有效
| 申请号： | 201210064304.5 | 申请日： | 2012-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN102621110A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 张学娇;叶青;蔡海文;瞿荣辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01J1/42 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种电光系数测量装置由宽带光源、第一光纤、第一准直器、待测电光材料样品、第二准直器、第二光纤和光谱仪构成，待测样品的上下表面的镀金电极分别与电源的正负极相连，两端面构成F-P腔。本测量装置可以测量出立方晶体结构材料的全部电光系数张量元。本发明具有结构简单和测量精度高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 电光 系数 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种电光系数测量装置，特征在于其过程包括宽带光源(1)、第一光纤(2)、第一准直器(3)、待测电光材料样品(4)、第二准直器(5)、第二光纤(6)和光谱仪(7)，其连接关系如下：所述的宽带光源(1)经第二光纤(2)与所述的第一准直器(3)相连，所述的光谱仪(7)的输入端经第二光纤(6)与所述的第二准直器(5)相连，在所述的第一准直器(3)和第二准直器(5)之间设置待测电光材料样品(4)，该电光材料样品(4)上下表面的镀金电极分别与电源的正负极相连，该电光材料样品(4)的两端面构成F‑P腔。
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