[发明专利]非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜对准装置与方法有效

专利信息
申请号: 201210054455.2 申请日: 2012-03-02
公开(公告)号: CN102591031A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 杨甬英;田超;张磊;韦涛 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G02B27/30 分类号: G02B27/30;G01B9/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 张法高
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜对准装置与方法。它由激光器出射的细光束经准直扩束系统后被扩束为平行宽光束,平行光入射至镀有半反半透膜的分光板后,一部分入射光被反射,反射光束被平面参考镜反射后再次返回分光板;另一部分入射光被透射,透射光束向前传播入射至辅助对准平板后返回;返回的反射光和返回的透射光在分光板处相遇发生干涉,形成干涉图,经成像系统后成像于探测器处;调节对准平板与部分补偿透镜相对于入射光的倾斜度,使探测器得到零条纹干涉图,移去对准平板,实现部分补偿透镜的倾斜对准。本发明解决了非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜对准误差问题,减少了其误对准对检测结果引入的调整误差。
搜索关键词: 球面 零位 干涉 检测 部分 补偿 透镜 对准 装置 方法
【主权项】:
一种非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜倾斜对准装置,其特征在于:由激光器(S1)出射的细光束经准直扩束系统(S2)后被扩束为平行宽光束,平行光入射至镀有半反半透膜的分光板(S3)后,一部分入射光被反射,反射光束被平面参考镜(S6)反射后再次返回分光板(S3);另一部分入射光被透射,透射光束向前传播入射至辅助对准平板(S4)后返回;返回的反射光和返回的透射光在分光板(S3)处相遇发生干涉,形成干涉图,经成像系统(S7)后成像于探测器(S8)处;调节对准平板(S4)与部分补偿透镜(S5)相对于入射光的倾斜度,使探测器(S8)得到零条纹干涉图,移去对准平板(S4),实现部分补偿透镜(S5)的倾斜对准。
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