[发明专利]非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜对准装置与方法有效

专利信息
申请号: 201210054455.2 申请日: 2012-03-02
公开(公告)号: CN102591031A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 杨甬英;田超;张磊;韦涛 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G02B27/30 分类号: G02B27/30;G01B9/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 张法高
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 球面 零位 干涉 检测 部分 补偿 透镜 对准 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜倾斜对准装置,其特征在于:由激光器(S1)出射的细光束经准直扩束系统(S2)后被扩束为平行宽光束,平行光入射至镀有半反半透膜的分光板(S3)后,一部分入射光被反射,反射光束被平面参考镜(S6)反射后再次返回分光板(S3);另一部分入射光被透射,透射光束向前传播入射至辅助对准平板(S4)后返回;返回的反射光和返回的透射光在分光板(S3)处相遇发生干涉,形成干涉图,经成像系统(S7)后成像于探测器(S8)处;调节对准平板(S4)与部分补偿透镜(S5)相对于入射光的倾斜度,使探测器(S8)得到零条纹干涉图,移去对准平板(S4),实现部分补偿透镜(S5)的倾斜对准。

2.根据权利要求1所述的一种非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜倾斜对准装置,其特征在于:所述的对准平板(S4)前表面和后表面之间楔角小于1度,对准平板(S4)前表面或后表面镀有增透膜。

3.根据权利要求1所述的一种非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜倾斜对准装置,其特征在于:所述的辅助对准平板(S4)和部分补偿透镜(S5)采用组合分离机构,组合分离机构包括第一镜座(1)、第二镜座(2)、组合螺钉(3)和压圈(4);第一镜座(1)上设有辅助对准平板(S4)和压圈(4),第二镜座(2)上设有部分补偿透镜(S5)和压圈(4),第一镜座(1)和第二镜座(2)通过组合螺钉(3)固定。

4.一种非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜偏心对准装置,其特征在于:由激光器(S1)出射的细光束经准直扩束系统(S2)后被扩束为平行宽光束,平行光入射至镀有半反半透膜的分光板(S3)后,一部分入射光被反射,反射光束被平面参考镜(S6)反射后再次返回分光板(S3);另一部分入射光被透射,透射平行光束经过具有大球差的部分补偿透镜(S5)后入射至对准球面反射镜(S9),光线被再反射,经过部分补偿透镜(S5)后返回分光板(S3);返回的反射光和返回透射光在分光板(S3)处相遇发生干涉,形成干涉图,经成像系统(S7)后成像于探测器(S8)处。

5.根据权利要求4所述的非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜偏心对准方法,其特征在于:所述的对准球面(S9)为凹或凸球面,具有峰谷小于1微米的面形误差。

6.一种使用如权利要求4所述装置的非球面非零位干涉检测中部分补偿透镜偏心对准方法,其特征在于它的步骤如下:

1)根据部分补偿透镜(S5)、对准球面(S9)的口径、曲率半径、折射率和厚度,采用Zemax光学设计软件建立干涉系统理论模型,得到清晰可辨干涉图时对准球面(S9)在光轴上的位置;

2)在理论模型中,等间隔改变部分补偿透镜(S5)的x轴偏心量Dx并追迹光线,根据最小二乘法,利用Zernike多项式拟合像面波前x轴慧差系数Cx,得到部分补偿透镜(S5)的x轴偏心量Dx与像面波前x轴慧差系数Cx关系曲线,拟合得到线性方程Cx=k·Dx,k为斜率;利用光学系统的旋转对称性质,得到部分补偿透镜(S5)的y轴偏心量Dy与像面波前y轴慧差系数Cy关系方程Cy=k·Dy

3)沿x轴和y轴方向上粗略平移部分补偿透镜(S5);

4)调整对准球面(S9)使接收到清晰可辨的干涉图,此时干涉图中存在大的慧差;

5)利用探测器采集多帧相移干涉图,利用多步相移算法解调干涉图,得到解调位相Wdet

6)根据最小二乘法,利用Zernike多项式拟合解调位相Wdet,得Wdet=∑AiZi,i=1,2,…,37,式中,Ai和Zi分别为第i项拟合系数和第i项Zernike多项式,得到像面的x轴,y轴慧差系数分别为A7,A8,记Cx=A7,Cy=A8

7)设定阈值ε,若x轴慧差系数|Cx|<ε,部分补偿透镜(S5)在x轴方向的偏心误差已足够小,否则,根据公式Dx=Cx/k计算部分补偿透镜(S5)在x轴方向的调整量Dx,并对部分补偿透镜(S5)在x轴进行补偿,即沿x轴移动Dx距离;同样根据公式Dy=Cy/k计算y轴方向需要的调整量Dy,对部分补偿透镜(S5)在y轴进行补偿;重复步骤4)至步骤7),直至同时满足|Cx|<ε且|Cy|<ε,偏心对准结束。

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