[发明专利]高速测试电路与方法有效
| 申请号： | 201210051692.3 | 申请日： | 2012-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN102967819A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 丁达刚;王智彬;王明弘;吴俊鹏;田立勤 | 申请（专利权）人： | 补丁科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 陈肖梅;谢丽娜 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率，并对一待测电路进行测试，此高速测试电路包含：一倍频电路，其接收自该测试仪频率，产生N倍频率的频率输出，其中N为正实数；一测试频率产生器，其根据倍频电路的输出及测试仪频率，产生一测试频率，此测试频率在低频与高频之间切换；一测试讯号产生器，其根据该测试频率而操作，此测试讯号产生器产生测试讯号，以供传送给待测电路；以及一比较电路，其根据待测电路对测试讯号的响应讯号，产生比对结果，其中，此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试，而在低频测试频率下执行低速动作。 | ||
| 搜索关键词： | 高速 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种高速测试电路，其接收自一测试仪而来的测试仪频率，并对一待测电路进行测试，其特征在于，包含：一倍频电路，其接收自该测试仪频率，产生N倍频率的频率输出，其中N为正实数；一测试频率产生器，其根据倍频电路的输出及测试仪频率，产生一测试频率，此测试频率在低频与高频之间切换；一测试讯号产生器，其根据该测试频率而操作，此测试讯号产生器产生测试讯号，以供传送给待测电路；以及一比较电路，其根据待测电路对测试讯号的响应讯号，产生比对结果，其中，此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试，而在低频测试频率下执行低速动作。
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