[发明专利]钻孔质量的分析方法无效
| 申请号： | 201210029690.4 | 申请日： | 2012-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN103245312A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 梁志坚;郑顶山 | 申请（专利权）人： | 文坦自动化有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人： | 刘俊 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种钻孔质量的分析方法，是分别制作基准验孔数据与被测物的孔位对比数据后，将该基准验孔数据与孔位对比数据进行比对判读，进而计算该孔位对比数据的各孔位相对于该基准验孔数据的偏差量后，绘制各孔位在2D平面的X、Y轴坐标的散布图，以及绘制各孔位在垂直于所述X、Y轴坐标投影方向累积数量后的直方图；甚至可以整合该X、Y轴坐标的散布图与累积数量后表示在Z轴方向的直方图后以3D图形呈现，让使用者可以更清楚分辨各个刀具钻径的偏差与集中情况，以利于分析解决问题。 | ||
| 搜索关键词： | 钻孔 质量 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种钻孔质量的分析方法，其特征在于，该钻孔质量的分析方法包括：制作基准验孔数据；制作被测物的孔位对比数据；撷取该基准验孔数据与该孔位对比数据进行比对判读；计算该孔位对比数据的各孔位相对于该基准验孔数据的偏差量后，绘制该孔位对比数据的各孔位在2D平面的X、Y轴坐标的散布图，以及绘制各孔位在垂直于所述X、Y轴坐标的投影方向累积数量的直方图。
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