[发明专利]电子材料用Cu-Ni-Si-Co系铜合金及其制造方法有效
申请号: | 201180059363.7 | 申请日: | 2011-11-11 |
公开(公告)号: | CN103249851A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 桑垣宽 | 申请(专利权)人: | JX日矿日石金属株式会社 |
主分类号: | C22C9/06 | 分类号: | C22C9/06;B21B3/00;C22C9/00;C22C9/01;C22C9/02;C22C9/04;C22C9/05;C22C9/10;C22F1/08;H01B1/02;H01B5/02;H01B13/00;C22F1/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 庞立志;孟慧岚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供强度和导电率的平衡优异、而且下垂卷曲受到抑制的Cu-Ni-Si-Co系合金条。一种铜合金条,其是含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成的电子材料用铜合金条,其中,根据以轧制面为基准的X射线衍射极图测定所得的结果,满足下述(a)和(b)两者:(a){200}极图中,α=20°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度145°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为5.2倍以下;(b){111}极图中,α=75°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度185°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为3.4倍以上。 | ||
搜索关键词: | 电子 材料 cu ni si co 铜合金 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种铜合金条,其是含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成的电子材料用铜合金条,其中,根据以轧制面为基准的X射线衍射极图测定所得的结果,满足下述(a)和(b)两者:(a){200}极图中,α=20°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度145°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为5.2倍以下;(b){111}极图中,α=75°的利用β扫描所得的衍射峰强度中,β角度185°的峰高度相对于标准铜粉末的该峰高度为3.4倍以上。
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