[发明专利]试样分析装置和试样分析方法有效
| 申请号： | 201180028145.7 | 申请日： | 2011-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN102933967A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 稻叶亨;松冈晋弥;坂诘卓;山下善宽;岛田贤史;小木修;原田裕至 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;B03C1/00;G01N33/543;G01N35/08 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 金鲜英;陈彦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供抑制磁性粒子（10）吸附的不均匀，以精度更好、高精度地进行检测的分析装置和分析方法。提供的试样分析装置具有：使含磁性粒子（10）的试样在其内部流动的流路（15）、以及在该流路（15）的磁性粒子捕捉区域中产生捕捉所述磁性粒子（10）的磁场的磁场产生设备（12），按照以下至少一种方式来构成：按照使粒子捕捉区域的下游端的流路截面积大于所述粒子捕捉区域的上游端的流路截面积的方式来构成，或者按照使所述磁场产生设备（12）所产生的磁场的大小在所述粒子捕捉区域的下游侧比上游侧大的方式来构成。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种试样分析装置，其特征在于，具有：使含磁性粒子的试样在其内部流动的流路、以及在该流路的磁性粒子捕足区域中产生捕捉所述磁性粒子的磁场的磁场产生设备，该装置按照以下至少一种方式来构成：按照使所述磁性粒子捕足区域的下游端的流路截面积大于所述磁性粒子捕捉区域的上游端的流路截面积的方式来构成，或者按照使所述磁场产生设备所产生的磁场的大小在所述磁性粒子捕足区域的下游侧比上游侧大的方式来构成。
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