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[发明专利]自动取样器的流路清洗方法和自动取样器的流路清洗装置-CN202180082208.0在审
发明人： 原田裕至;桥本雄一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N1/00 文献下载
摘要：本发明提供一种自动取样器的流路清洗方法，其能够兼顾抑制分析吞吐量的降低和抑制清洗液消耗量的增大。在流路清洗工序(S12)中，当通过清洗液提供机构将清洗液提供到包含用于吸引试料的喷嘴和用于保持从所述喷嘴吸引的所述试料的样品环的第1流路和包含用于清洗所述喷嘴的至少外壁的清洗槽的第2流路中的由流路切换机构切换得到的流路时，由控制装置基于表示与所述试料的测定项目相对应的清洗模式的清洗信息中的表示与所述试料的第1测定项目相对应的清洗模式的第1清洗信息、以及表示与接着所述第1测定项目之后测定的第2测定项目相对应的清洗模式的第2清洗信息，变更在所述第1测定项目的测定和所述第2测定项目的测定之间提供的所述清洗液的流速。
自动取样清洗方法装置

[发明专利]自动分析装置的控制方法-CN202180033108.9在审
发明人：野上真;原田裕至;桥本雄一郎 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2021-05-19 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：在具备连接于切换阀的多个样品端口中的2个样品端口之间的样品环路的自动分析装置的控制方法中，具有：根据预先取得的试样的粘性调整注射器的驱动参数的工序；将切换阀切换为装运器与注射器不经由样品环路而导通的第一状态的工序；基于驱动参数驱动注射器，经由装运器将试样引入并导入的工序；将切换阀切换为注射器与样品环路导通的第二状态的工序；以及基于驱动参数驱动注射器并向样品环路导入试样的工序。由此，能够提高鲁棒性、生产率以及测定精度。
自动分析装置控制方法

[发明专利]试样分析装置和试样分析方法-CN201180028145.7有效
发明人：稻叶亨;松冈晋弥;坂诘卓;山下善宽;岛田贤史;小木修;原田裕至 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2011-06-07 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供抑制磁性粒子（10）吸附的不均匀，以精度更好、高精度地进行检测的分析装置和分析方法。提供的试样分析装置具有：使含磁性粒子（10）的试样在其内部流动的流路（15）、以及在该流路（15）的磁性粒子捕捉区域中产生捕捉所述磁性粒子（10）的磁场的磁场产生设备（12），按照以下至少一种方式来构成：按照使粒子捕捉区域的下游端的流路截面积大于所述粒子捕捉区域的上游端的流路截面积的方式来构成，或者按照使所述磁场产生设备（12）所产生的磁场的大小在所述粒子捕捉区域的下游侧比上游侧大的方式来构成。
试样分析装置方法