[发明专利]一种半导体微气压传感器测试系统无效

专利信息
申请号: 201110445801.5 申请日: 2011-12-28
公开(公告)号: CN102564695A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 金仁成;刘光;王晓东;郭文泰;唐祯安 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01L27/00 分类号: G01L27/00
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 梅洪玉;关慧贞
地址: 116024*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种半导体微气压传感器测试系统,包括微机控制部分和真空获取部分。微机控制部分包括控制主机、程控电源、驱动电路、测试电路、A/D卡和D/A卡,主机控制程控电源,待测器件的响应信号通过测试电路和A/D卡传递到控制主机;真空获取部分包括真空腔室、泵组、质量流量控制器和真空计,真空腔室分别与质量流量控制器和泵组相连,气体从质量流量控制器流入,从泵组流出,质量流量控制器与D/A卡相连,通过模糊PID控制算法,维持真空腔室内气压平衡,真空计用作待测传感器标定基准。采用本发明可产生纯净气体的动态平衡真空环境,提高了测试过程的稳定性和抗干扰性,并为待测器件提供四种工作电路,便于半导体微气压传感器的标定与测试。
搜索关键词: 一种 半导体 气压 传感器 测试 系统
【主权项】:
一种半导体微气压传感器测试系统,其特征在于系统包括微机控制部分和真空获取部分;微机控制部分包括控制主机、程控电源、驱动电路、测试电路、A/D卡和D/A卡;真空获取部分包括真空腔室、泵组、质量流量控制器和真空计;控制主机控制程控电源,将电压或电流加载到驱动电路,为待测器件提供四种工作模式,待测器件的响应信号通过测试电路和A/D卡传递到控制主机;真空获取部分包括真空腔室、泵组、质量流量控制器和真空计,真空腔室分别与质量流量控制器和泵组相连,气体从质量流量控制器流入,从泵组流出,质量流量控制器与D/A卡相连,通过模糊PID控制算法维持真空腔室内气压平衡,真空计是待测传感器标定基准;所述驱动电路包括选择开关、恒压电路、恒流电路、恒温电路和恒功率电路,利用程控电源提供的恒定电流及恒定电压,为半导体微气压传感器提供恒压、恒流、恒温和恒功率四种工作模式;所述测试电路包括通道选择开关、程控放大器、滤波器、单片机和电源管理模块;所述真空腔室为圆筒型,内置测试平台,腔室前门具有观察窗;所述泵组由机械泵和扩散泵组成,机械泵产生10Pa以上的低真空环境,扩散泵产生10Pa以下的高真空环境;测试系统采用模糊PID控制算法进行气压控制,在大偏差范围内利用模糊推理的方法进行控制,小偏差范围内转变成PID控制。
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