[发明专利]正对电极结构、SiC光导开关及其它们的制造方法有效
申请号: | 201110439851.2 | 申请日: | 2011-12-23 |
公开(公告)号: | CN103178131A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 常少辉;黄维;刘学超;杨建华;施尔畏 | 申请(专利权)人: | 上海硅酸盐研究所中试基地;中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/18;H01L31/08 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 郭辉 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于半导体器件领域,涉及一种正对电极结构、SiC光导开关及其它们的制造方法。本发明所述正对电极结构包括半绝缘SiC晶片、空心电极柱、半透明或透明电极层以及实心电极柱。其中,所述半绝缘SiC晶片为经过抛光处理的高纯半绝缘或者钒掺杂半绝缘的SiC晶片;所述半透明或透明电极层是Au(500nm)/Pt(100nm)/Ti(100nm)/Ni(50nm)半透明电极结构或者透明导电薄膜,任选进行相应的退火;所述空心电极柱和实心电极柱优选分别为空心铝电极柱和实心铝电极柱。所述SiC光导开关通过使用特氟隆模具将本发明所述正对电极结构绝缘封装、并进行抽气封装获得。相比现有技术,本发明所述SiC光导开关可以增加开关通光面积,同时保证开关有较高的耐压值。 | ||
搜索关键词: | 电极 结构 sic 开关 及其 它们 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种正对电极结构,该结构包括:半绝缘SiC晶片;位于所述半绝缘SiC晶片上方的空心电极柱;位于所述半绝缘SiC晶片下方的实心电极柱;位于所述半绝缘SiC晶片的上表面、与所述空心电极柱的空心区域相对应的半透明或透明电极层;以及插入所述半绝缘SiC晶片下表面和实心电极柱之间的电极层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的