[发明专利]半导体激光器的可靠性测试方法无效
| 申请号： | 201110388925.4 | 申请日： | 2011-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102520329A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 章林强;詹敦平;周四海 | 申请（专利权）人： | 江苏飞格光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 镇江京科专利商标代理有限公司 32107 | 代理人： | 夏哲华 |
| 地址： | 212006 江苏省镇江市新区丁*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于半导体光电器件的制造技术，涉及一种半导体激光器的可靠性测试方法，此方法为检测产品的工作性能。其检测方法如下:A:在常温25℃下给激光器加一个工作电流使出光功率为Po，测试其当前的背光电流Im并记录；B:在高温85℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P1并记录；C:在低温-40℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P2并记录；D:高温85℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P1/Po)；E:低温-40℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P2/Po)；F:合格判定标准为TE≤1.5dB。本发明的优点是可以预先判定一个激光器的工作稳定性和失效模式，将产品成本降到最低，其测试的方法简单方便，测试系统搭建的成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 可靠性 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体激光器的可靠性测试方法，其特征是:A:在常温25℃下给激光器加一个工作电流使出光功率为Po，测试其当前的背光电流Im并记录；B:在高温85℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P1并记录；C:在低温‑40℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P2并记录；D:高温85℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P1/Po)；E:低温‑40℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P2/Po)；F:合格判定标准为TE≤1.5dB。
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