[发明专利]石墨烯基质及其在基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱检测中的应用无效
申请号: | 201110371102.0 | 申请日: | 2011-11-21 |
公开(公告)号: | CN102426187A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 程金生 | 申请(专利权)人: | 程金生 |
主分类号: | G01N27/64 | 分类号: | G01N27/64;G01N1/34;G01N1/38 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 孙伊滨 |
地址: | 541004 广西壮族*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种石墨烯基质及其在基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱检测的应用,它是在MALDI-TOFMS中将石墨烯作为辅助基质能高效、快速地实现从小分子化合物到生物大分子的分析和检测,更为重要的是可有效排除传统有机基质的分子离子峰的背景干扰,能够实现对氨基酸、脂类化合物、多肽、蛋白质、寡核苷酸等各种结构分子的分析和检测。用石墨烯作为基质的基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱是不需要加入任何有机基质的解吸离子化方法,可避免被分析物分解,具有很好的重现性和高耐盐性;为天然产物及生物代谢物提供了高效、快速的检测方法,同样也可用于常见生物大分子的检测,可以在所有的MALDI-TOFMS质谱中推广和应用,实现了石墨烯的深层次应用。 | ||
搜索关键词: | 石墨 基质 及其 辅助 激光 解吸 电离 飞行 时间 检测 中的 应用 | ||
【主权项】:
石墨烯基质在基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱检测中的应用,其特征是:包括如下步骤:(1)仪器与试剂的准备:BIFLEX III 型MALDI TOF质谱仪;氮激光器,波长337 nm,采用离子延迟引出及反射的工作方式,正离子检测;所采集的数据利用Flexcontrol 2.2,数据分析软件 Flex Analysis 2.4,质谱成像软件 Flex Imaging 1.0,差异分析软件 Clin Protools 2.0等软件处理;(2)在载体上制备石墨烯膜或涂层,气体吹干备用;(3)将载体固定在MALDI靶上;(4)将溶剂分散后样品滴加到石墨烯或功能化石墨烯膜或涂层表面后,使样品与基质形成的混晶二次结晶,溶剂挥发后即制得待测分析样品,进行激光解析离子化质谱分析。
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