[发明专利]一种光子计数全谱直读发射光谱仪无效

专利信息
申请号: 201110311399.1 申请日: 2011-10-14
公开(公告)号: CN102507005A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 缪震华;张利;杨萍;黄涛;张庆;尹延静;文敏;刘敏敏 申请(专利权)人: 深圳市世纪天源环保技术有限公司;缪震华
主分类号: G01J3/443 分类号: G01J3/443
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 陈慧珍
地址: 518038 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种光子计数全谱直读发射光谱仪,主要由激发装置、分光系统、光子计数成像探测器以及信息处理及显示构成:激发装置提供能量激发样品产生特征发射光谱;分光系统将包含特征发射光谱的入射复合光色散成光谱强度分布图像;光子计数成像探测器通过位敏探测和光子计数以数字化的方式重构光谱强度分布图像;信息处理及显示根据数字光谱强度分布图像中每一像元的位置和光强对样品进行定性定量分析。本发明结合了光子计数和“全谱直读”两大技术优势,不仅检出限低、读数精度高、数据稳定性好以及线性动态范围大,还可同时分析多种物质成分、可充分利用工作波长范围内的每一条谱线、工作速度快、结构简单以及运行稳定性好。
搜索关键词: 一种 光子 计数 直读 发射 光谱仪
【主权项】:
一种光子计数全谱直读发射光谱仪,其特征在于:所述发射光谱仪主要由激发装置(1)、分光系统(2)、光子计数成像探测器(3)以及信息处理及显示(4)构成;其中,激发装置(1)用于提供能量激发样品以产生特征发射光谱,并通过入射光学装置射入分光系统(2);分光系统(2),用于将包含特征发射光谱的入射复合光色散成光谱强度分布图像,并通过出射光学装置成像于光子计数成像探测器(3)的敏感面上;光子计数成像探测器(3),用于对光谱强度分布图像进行位敏探测和光子计数,并以数字化的方式重构光谱强度分布图像;信息处理及显示(4),用于接收和处理光子计数成像探测器(3)输出的数字光谱强度分布图像,并依据数字光谱强度分布图像中每一像元的位置和光强对样品进行定性定量分析;激发装置(1)与分光系统(2)之间和分光系统(2)与光子计数成像探测器(3)之间通过光学装置进行光学连接;光子计数成像探测器(3)与信息处理及显示(4)之间通过信号引线进行电子学连接。
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