[发明专利]测量刀具的刀刃轮廓的方法有效
申请号: | 201110304920.9 | 申请日: | 2011-09-23 |
公开(公告)号: | CN103017677A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 杜晓明;凯文.G.哈丁;霍华德.韦弗;詹姆斯.贝尔德;凯文.迈耶;顾嘉俊 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种用包括点式位移传感器的测量系统测量刀具刀刃轮廓的方法,该方法包括以下步骤:(a)将刀具沿其轴线旋转,用点式位移传感器扫描刀具的刃点,其中包括位于目标刃上的目标刃点,获得包含所述目标刃点的位置及方位信息的第一个点云;(b)根据目标刃点的位置及方位信息调整所述刀具与点式位移传感器之间的相对位置,使得所述点式传感器聚焦于包含所述目标刃点的感兴趣区域上;以及(c)用点式位移传感器扫描所述感兴趣区域,以获得第二个点云,该第二个点云包括分析所述刀具刀刃的轮廓所需的几何信息。 | ||
搜索关键词: | 测量 刀具 刀刃 轮廓 方法 | ||
【主权项】:
一种用点式位移传感器测量刀具的刀刃轮廓的方法,该方法包括:(a)将刀具沿其轴线旋转,用点式传感器扫描刀具的的刃点,其中包括位于目标刃上的目标刃点,获得含有所述目标刃点的位置及方位信息的第一点云;(b)根据目标刃点的位置及方位信息调整所述刀具与点式传感器之间的位置,使得所述点式传感器聚焦于包含所述目标刃点的感兴趣区域上;以及(c)用点式传感器扫描所述感兴趣区域,以获得第二点云,该第二点云包括分析所述刀具的刃的轮廓所需的信息。
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