[发明专利]一种原位制备掺杂黑硅的方法无效
申请号: | 201010269366.0 | 申请日: | 2010-09-01 |
公开(公告)号: | CN101950777A | 公开(公告)日: | 2011-01-19 |
发明(设计)人: | 夏洋;刘邦武;李超波;刘杰;汪明刚;李勇滔 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所;嘉兴科民电子设备技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 王建国 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种原位制备掺杂黑硅的方法,属于光电子器件制造技术领域。所述方法包括:将硅片放置于黑硅制备装置的注入腔室内;先后向装置中通入具有刻蚀、钝化作用的混合气体和具有掺杂元素的气体,相应地分别调整黑硅制备装置的工艺参数进入预先设置的数值范围;黑硅制备装置分别产生等离子体,等离子体中的具有刻蚀、钝化作用的反应离子与硅片发生反应,形成黑硅,具有掺杂元素的离子基团在注入偏压的作用下被注入到硅中,实现原位制备掺杂黑硅。采用本方法,能够在同一台设备上实现原位制备掺杂黑硅,工艺简单,生产成本低,并且容易达到很高的掺杂浓度。 | ||
搜索关键词: | 一种 原位 制备 掺杂 方法 | ||
【主权项】:
一种原位制备掺杂黑硅的方法,其特征在于,所述方法包括:将硅片放置于黑硅制备装置的注入腔室内;向所述黑硅制备装置通入混合气体,所述混合气体由具有刻蚀作用的气体和具有钝化作用的气体组成,调整所述黑硅制备装置的工艺参数进入预先设置的数值范围,所述黑硅制备装置产生等离子体,所述等离子体中的反应离子与所述硅片发生反应,形成黑硅;停止通入所述混合气体,并且抽出所述黑硅制备装置中的所有气体;保持所形成的黑硅在原位,向所述黑硅制备装置中通入具有掺杂元素的气体,调整所述黑硅制备装置的工艺参数进入预先设置的数值范围,所述黑硅制备装置产生等离子体,所述等离子体中的具有掺杂元素的离子或离子基团被注入到所述黑硅中,实现原位制备掺杂黑硅。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的