[发明专利]QFP芯片的定位检测方法

摘要

本发明涉及一种QFP芯片的定位检测方法，其步骤有：a、QFP芯片的图像采集及图像预处理；b、提取QFP芯片轮廓上的x、y坐标轴的四个极值点生成极点四边形；c、根据QFP芯片的轮廓上的极点四边形计算QFP芯片的粗略偏转角度；d、利用所述粗略偏转角度和四个极值点确定四条直线，并在根据设定阈值提取每侧引脚长度方向末端的边缘点后，采用最小二乘法进行将上述边缘点拟合成四条直线，最终精确计算出QFP芯片的偏转角度和中心坐标，从而完成QFP芯片的定位检测。本发明提高了QFP芯片的定位检测的精度和速度，能够准确、高效地在高速贴片机上完成QFP芯片的定位与检测。

主权项

1.一种QFP芯片的定位检测方法，其特征在于：其步骤包括：a、步骤1为QFP芯片的图像采集及图像预处理：用摄像机和图像采集卡采集QFP芯片的图像，并且把采集到的QFP芯片的图像送入计算机进行图像预处理，得到图像预处理后的QFP芯片的图像(m×n)；b、步骤2为构造极点四边形：将步骤1中图像预处理后的QFP芯片的图像(m×n)进行区域划分，即按x坐标分为左侧区域[0，m/4]和右侧区域[3m/4，m-1]，按y坐标分为上侧区域[0，n/4]和下侧区域[3n/4，n-1]，上述四个区域分别记为区域I、区域II、区域III和区域IV，然后在区域I和区域II中分别提取QFP芯片的轮廓的x坐标最小值点L(X_min，Y_L)和最大值点R(X_max，Y_R)，在区域III和区域IV中分别提取QFP芯片的轮廓的y坐标最小值点U(X_U，Y_min)和最大值点B(X_B，Y_max)，将四个极值点按U→R→B→L的顺序依次连接起来生成极点四边形URBL；c、步骤3为计算QFP芯片的粗略偏转角度θ：(c₁)、当QFP芯片未发生偏转时，按照步骤2中方法构造出极点四边形U₀R₀B₀L₀，根据QFP芯片的引脚的几何位置，算出形成的极点四边形U₀R₀B₀L₀中的边U₀R₀与x坐标轴的偏转角度θ₀，若QFP芯片的尺寸为l×l，QFP芯片同侧的首末引脚沿引脚的宽度方向最外侧边缘间的最大距离为w，则(c₂)、当QFP芯片发生偏转时，按照步骤2中方法构造出极点四边形U₁R₁B₁L₁，根据QFP芯片的引脚的几何位置，算出形成的极点四边形U₁R₁B₁L₁中的边U₁R₁与x坐标轴的角度由此算出QFP芯片的粗略偏转角度θ＝θ₁-θ₀；d、步骤4为在步骤1中图像预处理后的QFP芯片的图像中提取四侧的各个引脚末端的边缘线的所有点，并对提取的所有的点进行拟合，得到四条直线方程，并且由直线方程计算出QFP芯片的精确偏转角度θ′和中心坐标(X、Y)，从而完成QFP芯片的定位检测。