[发明专利]硝酸钠单晶的坩埚下降法生长工艺有效
申请号: | 201010231621.2 | 申请日: | 2010-07-20 |
公开(公告)号: | CN101892514A | 公开(公告)日: | 2010-11-24 |
发明(设计)人: | 袁晖;熊巍;陈良;周尧 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C30B11/00 | 分类号: | C30B11/00;C30B29/10 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 许亦琳;余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种坩埚下降法生长大尺寸、高质量硝酸钠单晶的方法,属于晶体生长技术领域。本发明采用分析纯硝酸钠为原料,采用单层圆锥底铂金坩埚或圆弧底石英玻璃坩埚装料,采用硅碳棒或硅钼棒为发热体的下降炉进行晶体生长,生长炉温350~380℃,生长速率0.2~1.0mm/h,生长界面温度梯度5~15℃/cm。本发明所述的坩埚下降法生长工艺简单,可按制定的条件进行晶体生长,其温场稳定,径向温梯小,可有效减少晶体开裂,而且一炉可同时生长多根不同规格的硝酸钠单晶。 | ||
搜索关键词: | 硝酸钠 坩埚 下降 生长 工艺 | ||
【主权项】:
一种硝酸钠单晶的坩埚下降法生长工艺,包括以下步骤:1)将原料硝酸钠于100~250℃焙烧2~5小时后,装入坩埚中;2)将装料后的坩埚置于下降炉中,控制炉温为360~380℃,当坩埚底部温度达到硝酸钠熔点时,开始晶体生长,下降速率为0.2~1.0mm/h,固液界面的温度梯度为5~15℃/cm;晶体生长完毕后,使炉体自然冷却至室温,取出坩埚,将晶体从坩埚中剥离,即得到无色硝酸钠单晶。
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