[发明专利]辐射检测组件、辐射检测器以及用于辐射检测的方法无效
| 申请号： | 200980102184.X | 申请日： | 2009-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN101919023A | 公开（公告）日： | 2010-12-15 |
| 发明（设计）人： | 欧文·温伯格 | 申请（专利权）人： | 欧文·温伯格 |
| 主分类号： | H01J47/00 | 分类号： | H01J47/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 杨生平;钟锦舜 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了一种用于检测辐射的组件。该组件包括具有粒子的主基质，粒子悬置在主基质内。所述粒子能够在与辐射相互作用时产生电荷载体。第一电极被布置成与所述主基质的第一表面相邻，第二电极被布置成与所述主基质的第二表面相邻。电源可操作地连接至所述第一电极和第二电极之一。该电源在所述第一电极和第二电极之间建立电场，使得所述电荷载体的迁移率寿命场强度积与所述主基质的厚度的比值大于或者等于0.1。还描述了一种辐射检测器以及用于检测辐射的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检测 组件 检测器 以及 用于 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测辐射的组件，包括：主基质，该主基质限定第一表面和第二表面以及该第一表面和该第二表面之间的厚度；悬置在所述主基质内的多个粒子，所述多个粒子能够在与所述辐射相互作用时产生至少一个电荷载体；第一电极，该第一电极被布置成与所述主基质的第一表面相邻；第二电极，该第二电极被布置成与所述主基质的第二表面相邻；以及电源，该电源可操作地连接至所述第一电极和第二电极中的至少一个，其中，所述电源用于在所述第一电极和第二电极之间建立电场，其中，关于所述至少一个电荷载体的迁移率寿命场强度积由方程式MLFP＝E·t·M来限定，其中，MLFP为所述迁移率寿命场强度积的值，其中，E为所述第一电极和第二电极之间的所述电场的值其中，t为所述至少一个电荷载体的寿命的值，其中，M为所述至少一个电荷载体的迁移率的值，且其中，所述迁移率寿命场强度积与所述主基质的第一表面和第二表面之间的厚度的比值大于或者等于0.1。
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