[发明专利]用于微电路测试系统的开尔文接点模块无效
| 申请号： | 200910253114.6 | 申请日： | 2005-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN101902876A | 公开（公告）日： | 2010-12-01 |
| 发明（设计）人： | J·W·奥沙利文;J·E·尼尔森 | 申请（专利权）人： | 约翰国际有限公司 |
| 主分类号： | H05K1/02 | 分类号： | H05K1/02;H05K1/11;G01R1/04;H01R12/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 顾峻峰 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于微电路测试系统的开尔文接点模块，一种用于测试微电路的电性能的测试系统，具有开尔文接点，其中微电路容纳在无线头外壳中。在多个接点组件中的滑块接点适应性地滑动以调节外壳上端子的非共面性。通过接点组件的内部间隙可以插入有弹性的弹性块，该弹性块与支撑并且排列接点组件的壳体的部件成干涉关系，以对滑块接点施加力以迫使它们压在微电路端子上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电路 测试 系统 开尔文 接点 模块 | ||
【主权项】：
一种绝缘电路板，用于与多个开尔文接点组件一起使用，所述电路板在其表面上具有：a)多个第一接触焊点，其沿着第一线设置；以及b)多个第二接触焊点，其沿着第二线设置，多个第二接触焊点的每个沿着第二线与多个第一接触焊点的每个呈偏移关系，其中多个第一接触焊点和多个第二接触焊点之间的该偏移关系以及多个第一接触焊点和多个第二接触焊点之间的间隙使单个第一接触焊点与接点组件的第一接触脚对齐，以及使邻近的第二接触焊点与接点组件的第二接触脚对齐。
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