[发明专利]位置测量装置和方法无效

专利信息
申请号: 200910194433.4 申请日: 2009-08-21
公开(公告)号: CN101634545A 公开(公告)日: 2010-01-27
发明(设计)人: 张冲;李志丹 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;G01B11/26
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所 代理人: 屈 蘅;李时云
地址: 201203上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出一种位置测量装置和方法,包括光源模块、照明模块、投影光阑、投影光栅、投影成像模块、探测成像模块、探测光栅和探测模块,所述光源模块发出的光经过所述照明模块、所述投影光阑和所述投影光栅后,由所述投影成像模块将所述投影光栅成像于被测对象上,以形成光栅像,所述探测成像模块将所述光栅像成像于所述探测光栅以形成探测像,所述探测像和所述探测光栅叠加形成莫尔条纹,所述莫尔条纹被所述探测模块探测,其中所述投影光栅为粗光栅。本发明结构简单,以直接的方式测量,灵敏度较高。
搜索关键词: 位置 测量 装置 方法
【主权项】:
1.一种位置测量装置,其特征在于包括光源模块、照明模块、投影光阑、投影光栅、投影成像模块、探测成像模块、探测光栅和探测模块,所述光源模块发出的光经过所述照明模块、所述投影光阑和所述投影光栅后,由所述投影成像模块将所述投影光栅成像于被测对象上,以形成光栅像,所述探测成像模块将所述光栅像成像于所述探测光栅以形成探测像,所述探测像和所述探测光栅叠加形成莫尔条纹,所述莫尔条纹被所述探测模块探测,其中所述投影光栅为粗光栅。
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