[发明专利]一种卫星用器件抗辐射能力的评估方法及其系统有效
| 申请号： | 200910085542.2 | 申请日： | 2009-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN101900770A | 公开（公告）日： | 2010-12-01 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;阳辉;陈冬梅;陈宇;刘燕芳;孙旭朋;宋岩;白桦 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 胡小永 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种卫星用器件抗辐射能力的评估方法，该方法包括步骤：对待测器件进行重离子单粒子效应试验，获取试验数据；利用Weibull函数拟合试验数据，得出尺度参数以及形状参数，推演质子单粒子翻转截面表达式；根据质子单粒子翻转截面表达式以及质子单粒子翻转率计算公式，计算质子单粒子翻转率；根据质子单粒子翻转率，评估待测器件的抗辐射能力。本发明还涉及一种卫星用器件抗辐射能力的评估系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 卫星 器件 辐射 能力 评估 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种卫星用器件抗辐射能力的评估方法，其特征在于，该方法包括步骤：S1.对待测器件进行重离子单粒子效应试验，获取试验数据；S2.根据所述试验数据，推演质子单粒子翻转截面表达式；S3.根据所述质子单粒子翻转截面表达式以及质子单粒子翻转率计算公式，计算所述质子单粒子翻转率；S4.根据所述质子单粒子翻转率，评估所述待测器件的抗辐射能力。
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