[发明专利]测距仪以及测距系统无效

专利信息
申请号: 200880106521.8 申请日: 2008-07-15
公开(公告)号: CN101802550A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: S·蒂德 申请(专利权)人: 罗伯特.博世有限公司
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00;G01C3/08;G01C15/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 胡莉莉;李家麟
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种测距仪(1)、尤其是激光测距仪,该测距仪(1)具有用于连续测量所述测距仪(1)的基准点(7)和间隔开的元件(5、16)之间的距离的装置。根据本发明规定,设置有用于用信号通知调节方向的装置(21),所述测距仪(1)必须相对于所述间隔开的元件(5、16)朝所述调节方向被调节和/或所述间隔开的元件(5、16)必须相对于所述测距仪(1)朝所述调节方向被调节,用于调整在所述测距仪(1)的所述基准点(7)和所述间隔开的元件(5、16)之间的预定距离。此外,本发明还涉及一种测距系统。
搜索关键词: 测距仪 以及 测距 系统
【主权项】:
测距仪、尤其是激光测距仪,其具有用于连续测量所述测距仪(1)的基准点(7)和间隔开的元件(5、16)之间的距离的装置,其特征在于,设置有用于用信号通知调节方向的装置(21),所述测距仪(1)必须相对于所述间隔开的元件(5、16)朝所述调节方向被调节和/或所述间隔开的元件(5、16)必须相对于所述测距仪(1)朝所述调节方向被调节,用于调整在所述测距仪(1)的所述基准点(7)和所述间隔开的元件(5、16)之间的预定距离。
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