[发明专利]光电元件粗化结构、粗化表面、粗化层及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200810134490.9 申请日: 2008-07-30
公开(公告)号: CN101640235A 公开(公告)日: 2010-02-03
发明(设计)人: 叶颖超;黄世晟;涂博闵;林文禹;吴芃逸;詹世雄 申请(专利权)人: 先进开发光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈 晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供光电元件粗化结构、粗化表面、粗化层及其制造方法。本发明提供一种具有双重尺度粗化结构的光电元件,其在光电元件的半导体层外延过程中,通过高浓度掺杂杂质,以使此半导体层成长出多个岛体。随后,降低外延温度以持续在多个岛体上形成多个针孔,其中针孔分布于岛体的顶部与侧面,可大幅降低光线在光电元件内部的全反射率,进而增加光电元件的光强表现。而和传统技术相比较而言,本发明提出的工艺具有低污染、工艺简单、成本低廉、光取出效率更佳、双重尺度出光面的有效面积较大等等优势。
搜索关键词: 光电 元件 结构 表面 粗化层 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种光电元件粗化结构,包含:多个岛体,分布于该光电元件的半导体层上;以及多个针孔,分布于该多个岛体的顶部与侧面。
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