[发明专利]一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法无效
| 申请号： | 200810017733.0 | 申请日： | 2008-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN101254104A | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | 廖琪梅;曹军;张星;涂晓丽 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军第四军医大学 |
| 主分类号： | A61B5/107 | 分类号： | A61B5/107;A61B6/00;A61B19/00 |
| 代理公司： | 西安慈源有限责任专利事务所 | 代理人： | 潘宪曾;鲍燕平 |
| 地址： | 710032*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及口腔正畸头影测量分析，是一种针对正畸临床诊断所需要进行的头影测量分析工作而设计的计算机图像测量方法，确切说是一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法，其特征是：它至少包括以下步骤：获取的头颅片显示在显示器上、在显示器的头颅片上依次建立需要的点、线，通过获取点到线、点到点、线到线的距离实现头颅片上颅颌骨结构关系或尺寸。该方法医生容易适应、测量随意、不受限制、操作方便、维护性好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 头颅 测量 颌骨 结构 关系 尺寸 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种在头颅片上测量颅颌骨结构关系、尺寸的方法，其特征是：它至少包括以下步骤：获取的头颅片显示在显示器上、在显示器的头颅片上依次建立需要的点、线，通过获取点到线、点到点、线到线的距离实现头颅片上颅颌骨结构关系或尺寸。
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