[发明专利]对位平台的旋转参数获取方法无效

专利信息
申请号: 200710074343.2 申请日: 2007-05-09
公开(公告)号: CN101303230A 公开(公告)日: 2008-11-12
发明(设计)人: 何享真;林锦辉 申请(专利权)人: 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司;沛鑫半导体工业股份有限公司
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00;G01B21/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201600上海市松江区*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种对位平台的旋转参数获取方法,包括步骤:将其上设置有第一及第二对位记号的工件装载在对位平台上;获取第一及第二对位记号的初始坐标值;驱动对位平台运动n次使第一及第二对位记号相对于其初始位置以任意角度转动n次;获取第一及第二对位记号的坐标值(Xai,Yai)及(Xbi,Ybi),以及其旋转半径Rai,Rbi,1≤i≤n;获取以(Xai,Yai)及(Xbi,Ybi)为圆心对应的Rai及Rbi为半径的两圆的一交点坐标值(Xi,Yi);对获取的坐标值(Xi,Yi)进行数值统计以剔除标准差之外的坐标值;利用未被剔除的坐标值计算出第一及/或第二对位记号的旋转半径和初始旋转角;以及分别平均所述计算出的旋转半径和初始旋转角的取值,进而获取所述对位平台对应第一及/或第二对位记号的旋转参数。
搜索关键词: 对位 平台 旋转 参数 获取 方法
【主权项】:
1.一种对位平台的旋转参数获取方法,其包括步骤:将工件装载在对位平台上,该工件上设置有第一对位记号及第二对位记号;获取第一对位记号及第二对位记号的初始坐标值;驱动所述对位平台运动n次使所述工件上的第一对位记号及第二对位记号相对于其初始位置以任意角度转动n次,n为大于1的自然数;获取每次转动后的第一对位记号及第二对位记号的坐标值(X1i,Y1i)及(X2i,Y2i),以及第一对位记号及第二对位记号的旋转半径R1i,R2i,其中,1≤i≤n;获取以(X1i,Y1i)及(X2i,Y2i)为圆心,对应的R1i及R2i为半径的两圆的一交点的坐标值(Xi,Yi),该坐标值(Xi,Yi)为所述对位平台的旋转中心的坐标值;对获取的旋转中心的坐标值(Xi,Yi)进行数值统计以剔除标准差之外的坐标值;利用未被剔除的旋转中心的坐标值计算出对应第一对位记号及/或第二对位记号的旋转半径和初始旋转角的取值;以及分别平均所述计算出的旋转半径和初始旋转角的取值,进而获取所述对位平台对应第一对位记号及/或第二对位记号的旋转参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士迈半导体精密工业(上海)有限公司;沛鑫半导体工业股份有限公司,未经富士迈半导体精密工业(上海)有限公司;沛鑫半导体工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710074343.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top