[实用新型]分析芯片无效
| 申请号： | 200620066145.2 | 申请日： | 2006-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN200959006Y | 公开（公告）日： | 2007-10-10 |
| 发明（设计）人： | 陈缵光;李全文;李偶连;蓝悠;刘翠 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01N27/07 | 分类号： | G01N27/07 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510275广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种分析芯片。该芯片包括基片和盖片，其特征是芯片的盖片或基片为薄膜片；薄膜片厚度为30～500微米。本实用新型作为微全分析系统非接触电导检测的芯片，其优点在于工艺简单、使用方便、可在较低的激发频率和较低的激发电下工作、安全和稳定性能好。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种分析芯片，包括基片(1)和盖片(2)，其特征是，芯片的盖片或基片为薄膜片；薄膜片厚度为30～500微米。
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