[发明专利]一种非接触连续测量超导线/带材n指数均匀性的方法和装置

摘要

一种非接触连续测量超导线/带材n指数均匀性的方法和装置，其特征在于在平行带面的交流场形及小于待测区域完全穿透场的前提下，将超导线/带材置于交流背场磁场中，测量探测线圈[2－2’]和补偿线圈[3－3’]两者感应电压之差为磁滞损耗电压分量U″_rms，测量不同交流背场下的损耗电压，根据损耗电压与交变磁场的幂指数拟合关系，得到该段超导线/带材的n值指数。应用本发明方法的测量装置，包括交流背场磁体，探测线圈和补偿线圈，步进电机[4]，收线盘[5]，放线盘[6]，放线定滑轮[7]，收线定滑轮[8]，低温冷却介质[9]，低温容器[10]，数字电压表[11]，交变背场磁体电源[12]，控制、数据采集及处理系统[13]。本发明可连续测量任何长度的实用超导线/带材局部的n指数及其分布。

主权项

1、一种非接触连续测量超导线/带材n指数均匀性的方法，其特征在于将超导线/带材置于交流背场磁场[1-1’]中，测量探测线圈[2-2’]和补偿线圈[2-2’]两者感应电压之差为磁滞损耗电压分量U″rms，对交流背场磁体提供不同电流，得到不同的交变磁场，从而得到不同的损耗电压分量，根据损耗电压分量与交变磁场振幅的幂指数拟合关系，最后得到该段超导线/带材的n值指数。