[发明专利]通过盘槽以及相关光分析盘触发的方法和系统无效

专利信息
申请号: 03803047.0 申请日: 2003-01-23
公开(公告)号: CN1625689A 公开(公告)日: 2005-06-08
发明(设计)人: 詹姆斯·霍华德·库姆斯;凯文·罗伯特·麦金太尔;马克·奥斯卡·沃辛顿 申请(专利权)人: 长冈实业株式会社;伯斯坦技术公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N21/59;G11B7/007
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 蒋世迅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种包括槽的光分析盘,这些槽限定对应的激光可读轨道和识别盘上各自目标区的触发标记。触发标记是作为槽的径向中断,从而产生增强的激光束反射。还提供包括触发机构的光分析盘系统,该触发机构有适合于检测光分析盘槽中断的触发检测器。一种通过光分析盘中断槽触发的相关方法,包括:检测槽的中断,产生对应于所检测中断的电反射信号,和加工所述反射信号以产生触发信号。
搜索关键词: 通过 以及 相关 分析 触发 方法 系统
【主权项】:
1.一种包括槽的光分析盘,这些槽限定对应的激光可读轨道和识别盘上各自目标区的触发标记,所述触发标记是所述槽的径向中断,从而产生增强的激光束反射。
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