[发明专利]一种测量超导带材各部分临界电流均匀性的方法

摘要

本发明为一种测量超导带材各部分临界电流均匀性的方法，属于超导电工领域。其特征在于对背场磁体通以直流电，产生稳恒直流磁场作为背景磁场，超导带材通过背景磁场；当超导带材运动到背景磁体之外时，利用霍尔探头测量超导带材的剩余磁场，测量超导带材剩余磁场时，超导带材所处空间没有背景磁场；超导带材各部分剩余磁场的比值等于超导带材各部分临界电流的比值，也就是超导带材临界电流的均匀性。本发明对超导带材没有物理损坏，工作量很小，速度大为提高。适用于对长度较长的超导带材进行测量。超导带材的生产和使用厂家均可以利用本发明进行产品的质量控制。

主权项

1.一种测量超导带材各部分临界电流均匀性的方法，其特征在于对背场磁体[4]通以直流电，产生稳恒直流磁场作为背景磁场[3]，超导带材[1]通过背景磁场[3]；当超导带材[1]运动到背景磁体[4]之外时，利用霍尔探头[2]测量超导带材[1]的剩余磁场，测量超导带材[1]剩余磁场时，超导带材[1]所处空间没有背景磁场[3]；超导带材[1]各部分剩余磁场的比值等于超导带材各部分临界电流的比值，也就是超导带材临界电流的均匀性。