[发明专利]球格阵X射线定向标志无效
| 申请号： | 02804530.0 | 申请日： | 2002-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN1515032A | 公开（公告）日： | 2004-07-21 |
| 发明（设计）人： | P·W·普里姆罗斯 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544;H01L23/498;H01L21/60 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 李家麟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 给出了一种用于检查电子元件定位以及连接整体性的X射线校验的装置和方法。示例性方法包括：提供用于表面安装集成的电子元件100以及为该电子元件100提供X射线可见的定向指示符300、402、500、600，使得在进行该电子元件的表面安装集成之后，该电子元件100的适当定向可由X射线检查来校验。X射线检查还使电子元件100的连接整体性可被校验。 | ||
| 搜索关键词： | 球格阵 射线 定向 标志 | ||
【主权项】：
1.一种产生可检查的电子元件的方法，其特征在于包括：提供用于集成的电子元件；以及提供该电子元件的X射线可见的定向指示符，使得在电子元件的集成之后该电子元件的适当定向可由X射线检查来校验；其中X射线检查还在电子元件的集成之后使电子元件的连接整体性可被校验。
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