[发明专利]以一次可编程熔断器/抗熔断器组合为基础的存储单元无效

专利信息
申请号: 02143769.6 申请日: 2002-09-28
公开(公告)号: CN1409399A 公开(公告)日: 2003-04-09
发明(设计)人: T·C·安东尼 申请(专利权)人: 惠普公司
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L21/82
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥凌
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种包括一熔断器(130,330)和一抗熔断器(180,380)串联的一次可编程存储单元(100,300),该存储单元有两种状态一初始状态和一已写(已编程)状态,在初始状态中,单元的电阻是有限的,一般以抗熔断器的较高电阻为主,而在已写状态中,因为熔断器击穿而造成开路,故电阻是无限的,对该单元(100,300)的编程是通过跨越单元(100,300)加一个临界电压,产生一个临界电流,促使熔断器(130,330)断开。当加临界电压时,一般将使抗熔断器(180,380)击穿,从而在熔断器上产生一个高电流脉冲,用跨越存储单元加输入电压的方法检测此状态,如果存储器已经编程,则有可以测定数量的电流流动,否则将无电流流动。
搜索关键词: 一次 可编程 熔断器 组合 基础 存储 单元
【主权项】:
1.一种存储单元(100,300),其包括:一个在第一方向上伸展的上导体(160、360);一个在第二方向上伸展的下导体(110、310),从而在所述上导体(160、360)和下导体(110、310)之间限定一个重叠区(115、315),所述下导体(110、310)同所述上导体(160、360)成电连接;一个在所述重叠区(115、315)内形成、并同所述上导体(160、360)和下导体(110、310)成电连接的熔断器(130、330);以及一个同所述熔断器(130、330)电学串联形成的抗熔断器(180、380)。
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