[发明专利]在单个存储单元中存储多值数据的非易失性半导体存储器有效
申请号: | 02106452.0 | 申请日: | 2002-02-28 |
公开(公告)号: | CN1428867A | 公开(公告)日: | 2003-07-09 |
发明(设计)人: | 田中智晴;陈健(音译) | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;三因迪斯克公司 |
主分类号: | H01L27/105 | 分类号: | H01L27/105;H01L27/112;H01L29/78 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的非易失性半导体存储器具备可对数据进行电改写的1个非易失性半导体存储单元;以及将数据写入存储单元的写入电路,对存储单元供给写入电压Vpgm和写入控制电压VBL来对存储单元进行写入,如果存储单元达到了第1写入状态,则改变写入控制电压VBL的值来对存储单元进行写入,如果存储单元达到了第2写入状态,则将写入控制电压VBL的值改变为Vdd来禁止对存储单元M的写入。 | ||
搜索关键词: | 单个 存储 单元 数据 非易失性 半导体 存储器 | ||
【主权项】:
1.一种非易失性半导体存储器,包括:可对数据进行电改写的1个非易失性半导体存储单元;以及将数据写入上述存储单元的写入电路,对上述存储单元供给写入电压和写入控制电压来对上述存储单元进行写入,如果上述存储单元达到了第1写入状态,则改变上述写入控制电压的供给状态来对上述存储单元进行写入,如果上述存储单元达到了第2写入状态,则再改变上述写入控制电压的供给状态来禁止对上述存储单元的写入。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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