[发明专利]强电介质存储装置无效
申请号: | 01808428.1 | 申请日: | 2001-12-27 |
公开(公告)号: | CN1426602A | 公开(公告)日: | 2003-06-25 |
发明(设计)人: | 长谷川和正;名取荣治;宫泽弘;柄泽润一 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | H01L27/105 | 分类号: | H01L27/105;G11C11/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯,王忠忠 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 强电介质存储装置中,设有简单矩阵型存储单元阵列。设第一信号电极(12)与第二信号电极(16)之间所加电压的绝对值的最大值为Vs,则由第一电极(12)、第二电极(16)以及强电介质层(14)构成的强电介质电容器(20)的极化值(P)满足以下关系:当施加电压从+Vs设为-1/3Vs时,0.1P(+Vs)<P(-1/3Vs);当施加电压从-Vs设于+1/3Vs时,0.1P(-Vs)>P(+1/3Vs)。 | ||
搜索关键词: | 电介质 存储 装置 | ||
【主权项】:
1.一种强电介质存储装置,设有存储单元成矩阵排列的存储阵列,其中包括:第一信号电极,在跟该第一信号电极交叉的方向上排列的第二信号电极,以及至少设于所述第一信号电极与所述第二信号电极的交叉区域的强电介质层;设所述第一信号电极与所述第二信号电极之间所加电压的绝对值的最大值为Vs,则由所述第一电极、所述第二电极以及所述强电介质层构成的强电介质电容器的极化值P,当施加电压从+Vs设为-1/3Vs时在0.1P(+Vs)<P(-1/3Vs)的范围内,当施加电压从-Vs设为+1/3Vs时在0.1P(-Vs)>P(+1/3Vs)的范围内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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