[发明专利]自动化基准单元微调检验

摘要

提供一种用于在闪速EEPROM存储单元阵列中对基准单元晶体管进行编程检验操作的基准微调检验电路及方法。使用基准电流分支(14)而产生基准电流，其对应于准备编程的基准单元的预定过激励电压。漏极电流分支(16)耦合至准备编程的基准单元晶体管，在其控制栅极加有固定栅极电压时产生漏极电流，并当预定漏极电压加到其漏极时，该漏极电流处于所需水平。以比较器(18)将对应于漏极电流的检测电压与对应于基准电流的基准电压进行比较。由比较器产生一输出信号，该输出信号在检测电压为基准电压时处于低逻辑电平，而在检测电压高于基准电压时处于高逻辑电平。每当比较器产生低逻辑电平时将编程脉冲加至该基准晶体管，每当比较器产生高逻辑电平时结束该编程脉冲。

主权项

1.一种基准单元微调检验(referencecelltrimmingverify)电路，用于对闪速EEPROM存储单元阵列执行编程检验(programverify)，所述微调电路包含：基准电流分支装置(14)，用以产生对应于要进行编程的基准单元晶体管的预定过激励电压的基准电流；漏极电流分支装置(16)，耦合至所述要进行编程的基准单元晶体管，用于在固定的栅极电压施加至其控制栅极时产生漏极电流，而在预定的漏极电压施加至其漏极时该漏极电流处于预定水平；比较装置(18)，用以将对应于所述漏极电流的检测电压与对应于所述基准电流的基准电压加以比较，并用以产生一输出信号，该输出信号当所述检测电压低于所述基准电压时处于低逻辑电平，而其当所述检测电压高于所述基准电压时则处于高逻辑电平；以及装置，用于每当所述比较装置产生低逻辑电平时，将一编程脉冲(programpulse)施加至所述基准晶体管，而当所述比较装置产生高逻辑电平时结束该编程脉冲。