[发明专利]色层分析定量测量装置有效
| 申请号： | 01802901.9 | 申请日： | 2001-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN1392953A | 公开（公告）日： | 2003-01-22 |
| 发明（设计）人： | 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N30/90;G01N33/543 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 定量 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种色层分析定量测量装置，将光源出射的光束照射到试料上，根据来自上述试料的透过光或反射光进行光学信号的检测，并从上述信号中定量地读取试料浓度，其特征在于：具有使从上述光源出射的上述光束变成椭圆或矩形形状并照射到试料上的光学构件。
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