[发明专利]晶片测试器的屏幕使用界面及前置处理方法无效
| 申请号： | 01116961.3 | 申请日： | 2001-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN1385887A | 公开（公告）日： | 2002-12-18 |
| 发明（设计）人： | 邱福千;陈伟梵;俞大立;游本辉 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 任永武 |
| 地址： | 台湾省新竹市新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种晶片测试器的屏幕使用界面包含搜寻第一文件的第一窗口;第一按钮,电连接至第一窗口,于触动时根据第一文件的数据转换为第二文件,第二文件语法符合晶片自动测试器;晶片测试器的前置处理方法包含提供使用手册文件;自使用手册文件截取欲测试部份的数据以得第一文件;转换第一文件为一第二文件,以符合晶片测试器的语法;以及传送第二文件至晶片测试器。这样可简化操作程序、节省测试时间、实现友善使用和提升测试自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 测试 屏幕 使用 界面 前置 处理 方法 | ||
【主权项】：
1.一种晶片测试器的屏幕使用界面，用以将一第一文件转换为一所述晶片测试器可使用的第二文件，其特征在于，它包含：一第一窗口，用以搜寻所述第一文件；一第一按钮，电连接至所述第一窗口，于触动时，根据所述第一文件的数据转换为所述第二文件，所述第二文件的语法符合所述晶片自动测试器。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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