专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于确定一个或多个组织样本中的细胞组成信息的装置-CN201780080928.7有效
  • C·韦雷坎普;R·温贝格尔-弗里德尔;D·哈尔特 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2017-10-26 - 2023-06-16 - G06V20/69
  • 本发明涉及一种用于确定一幅或多幅组织样本显微镜图像中的细胞组成的装置(10)。它被描述为提供(210)至少一个组织样本的第一图像数据。所述第一图像数据与所述至少一个组织样本中的组织样本的非特异性染色有关。提供(220)所述至少一个组织样本的第二图像数据。所述第二图像数据与所述至少一个组织样本中的组织样本的特异性染色有关。(i)已经经历特异性染色的所述组织样本与已经经历非特异性染色的所述组织样本相同,或者(ii)已经经历特异性染色的所述组织样本与已经经历非特异性染色的所述组织样本不同。在所述第一图像数据的基础上确定(230)非特异性细胞组成细胞密度图。在所述第二图像数据的基础上确定(240)特异性细胞组成细胞密度图。在所述非特异性细胞密度图和所述特异性细胞密度图的基础上确定(250)关于所述至少一个组织样本中的细胞组成的信息。
  • 用于确定一个组织样本中的细胞组成信息装置
  • [发明专利]表征放射学图像中的病变-CN201980076240.0在审
  • R·温贝格尔-弗里德尔;M·B·范莱文 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2019-11-11 - 2021-07-23 - G06T7/00
  • 本发明涉及一种用于在表征放射学图像中的病变中使用的方法,包括:执行对象的病变的样本的病理学图像的基于计算机的分析,以便识别病变的组织和/或细胞特性,其中,分析产生表示识别的组织和/或细胞特性的导出的病理学图像;根据所述病变的放射学图像计算针对所述病变的一个或多个放射学特征;并且确定所计算的一个或多个放射学特征与所述识别的组织和/或细胞特性之间的相关性。利用该方法,生物学标准数据信息能够用于识别指示病变的某些组织和/或细胞特性并且因此可以更好地适于表征病变的放射学特征。此类放射学特征然后能够与对应的相关性一起被用于放射学图像中的病变的改进的表征。
  • 表征放射学图像中的病变
  • [发明专利]生成组织图像的注释数据-CN201980060292.9在审
  • 左菲;A·派里克;R·温贝格尔-弗里德尔;K·德拉特;M·范德里 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2019-08-14 - 2021-04-23 - G06T7/00
  • 当前,存在对应用机器学习技术以自动地分析数字病理学图像的兴趣。机器学习技术常常依赖于利用真实状况图像输入来训练。训练数据的质量和量确定如以真和假阳性的比率表达的检测器的质量以及对输入图像的外观的变化的鲁棒性。本申请建议在至少一个重新染色步骤之前和之后获得相同样本的图像数据(首先利用结构揭示染色剂并且其次利用生物标记揭示染色剂)。具有好的配准关系的第一和第二图像数据的部分被选择,以及检测期望候选对象(诸如核)的概率和生物标记揭示染色剂呈现适于训练第一和/或第二图像数据上的机器学习算法的注释数据的概率被提供。
  • 生成组织图像注释数据
  • [发明专利]识别不良事件-CN201980017543.5在审
  • V·L·D·C·比托里诺德阿尔梅达;R·温贝格尔-弗里德尔 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2019-02-01 - 2020-11-03 - G16H20/10
  • 本发明公开一种用于识别关于要接收或者已经接收免疫疗法处置的对象可能发生的不良事件的系统。所述系统包括:存储器,所述存储器包括表示指令集的指令数据;以及处理器,所述处理器被配置为与所述存储器通信并且执行所述指令集。所述指令集在由所述处理器执行时,使得所述处理器:获得与所述对象相关联的对象简档;获得与所述对象相关联的药物给予数据;获得与所述对象相关联的医学数据;基于所述对象简档和所述药物给予数据来确定关于所述对象可能发生的不良事件的第一集合(114);并且,基于所述对象简档和所述医学数据来确定关于所述对象可能发生的不良事件的第二集合(116)。还公开了对象监测装置、方法和计算机程序产品。
  • 识别不良事件
  • [发明专利]涂覆阻挡涂层的纳米结构-CN201380035356.2有效
  • R·温贝格尔-弗里德尔;C·R·M·德维茨;C·A·范登赫费尔 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2013-06-25 - 2019-05-21 - G01N21/55
  • 本发明涉及包括纳米结构的装置,其中所述纳米结构由导电材料制成并且其中所述纳米结构由阻挡涂层覆盖,该阻挡涂层包含Ti、Zr、Hf、Nb、Ta、Mo、Sc、Y、Ge、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Sr、Al、B、Ba、Bi和/或Mg氧化物,厚度至少为约1nm,其中通过原子层沉积(ALD)来沉积所述阻挡涂层。本发明还涉及在这种装置中检测目标化合物的方法以及这种装置用于表面特异性地产生倏逝场、测量介质的介电性能、检测目标化合物的存在或浓度、确定目标化合物的一级结构、确定目标化合物与对照值的偏差、扩增目标化合物或监测目标化合物的扩增的用途。此外,本发明涉及制造包括纳米结构的装置的方法,该纳米结构允许通过产生倏逝场进行表面特异性的检测或允许介电传感,该方法包括通过原子层沉积(ALD)在诸如铝的导电材料上沉积厚度至少为约1nm的Ti、Zr、Hf、Nb、Ta、Mo、Sc、Y、Ge、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Sr、Al、B、Ba、Bi和/或Mg氧化物阻挡涂层。
  • 阻挡涂层纳米结构

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