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[发明专利]X射线分析设备-CN201910300453.9有效
发明人： D·贝克尔斯;米伦·加特什基;亚普·博克塞姆;法比奥·马谢洛 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2019-04-15 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01N23/201 文献下载
摘要：本公开涉及但不限于X射线分析设备。所述设备包括用于支撑样本的样本台、具有旋转轴的测角仪和布置成绕测角仪的旋转轴可旋转的X射线检测器，其中X射线检测器布置成接收来自样本的沿着X射线束路径引导的X射线。X射线分析设备还包括均具有第一和第二配置的第一、第二和第三准直器。准直器在其第一配置中布置在X射线束路径中。准直器在其第二配置中布置在X射线束路径之外。第一致动器装置配置成通过在与X射线束路径相交的横向方向移动第一和第二准直器来在第一和第二配置之间移动第一和第二准直器。第二致动器装置配置成使第三准直器在其第一和第二配置之间移动。控制器配置成控制第一致动器装置以使第一准直器在第一和第二配置之间移动。
射线分析设备

[发明专利]X射线分析设备和方法-CN201910295269.X有效
发明人： D·贝克尔斯;亚普·博克塞姆;米伦·加特什基 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2019-04-12 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本申请涉及X射线分析设备和方法。一种X射线分析设备包括被配置成用入射X射线波束照射样品的X射线源。第一波束掩模部件被布置在X射线源和样品之间。第一波束掩模部件具有用于限制入射X射线波束的尺寸的第一开口。当第一波束掩模部件在第一配置中时，第一开口被布置在入射X射线波束中。第一波束掩模部件还包括第二开口。当第一波束掩模部件在第二配置中时，第二开口被布置在入射X射线波束中。第二开口不限制入射X射线波束的尺寸。控制器被配置成控制第一波束掩模部件致动器以通过在与入射X射线波束相交的平面中移动第一波束掩模部件来将第一波束掩模部件的配置在第一配置和第二配置之间进行改变。
射线分析设备方法

[发明专利]用于X射线分析设备的样品安装系统-CN202111509458.6在审
发明人： 亚普·博克塞姆;D·贝克尔斯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01N23/20025 文献下载
摘要：本申请涉及用于X射线分析设备的样品安装系统。样品安装系统包括样品保持器和样品载物台，样品载物台具有用于支撑样品保持器的平台。样品可以通过安装件固定到样品保持器。样品保持器包括保持器参照部分，该保持器参照部分与样品载物台的对应参照部分(载物台参照部分)配合，以将样品保持器与样品载物台对准。当样品保持器被定位在平台上使得载物台参照部分和保持器参照部分彼此接合时，样品保持器与样品载物台对准。
用于射线分析设备样品安装系统