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[发明专利]在对试样进行热分析时用于校准调温的方法-CN201710851017.1有效
发明人： M·布鲁纳;A·林德曼 -专利权人：耐驰-仪器制造有限公司
申请日： 2017-09-20 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明涉及用于校准对试样(P1至P4)进行热分析的设备(10)的方法。根据本发明的方法包括：借助设备(10)的光热测量装置(18、20、22)在一个确定的试样上或在多个同种类的试样上进行光热测量，该一个确定的试样为此依次地保持在设备(10)的多个试样保持件(14‑1至14‑4)中并且分别进行光热测量，或多个同种类的试样为此保持在多个保持件(14‑1至14‑4)中的各其中一个中并且分别进行光热测量，其中，在光热测量时分别以电磁激励脉冲照射相关试样的第一侧，并且检测由于激励脉冲而从该试样的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射；比较多个试样保持件(14‑1至14‑4)的光热测量的结果；基于比较结果，为每个试样保持件(14‑1至14‑4)分别得出至少一个修正参数；以及基于得出的修正参数对设备(10)的温度测量装置(26‑1至26‑4)和/或设备(10)的调温装置(16‑1至16‑4)进行校准。
试样进行分析用于校准调温方法

[发明专利]用于对试样进行热分析和/或用于对温度测量装置进行校准的方法和设备-CN201611095310.1有效
发明人： M·布伦纳;A·辛德勒;A·林德曼 -专利权人：耐驰-仪器制造有限公司
申请日： 2016-12-01 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明涉及用于对试样(12)进行热分析的设备，包括：根据温度程序对试样(12)进行调温，在该温度程序的进程中试样(12)的温度(T)发生变化；在温度程序的进程中测量试样(12)的温度(T)；在温度程序的进程中测量试样(12)的与试样(12)的温度(T)不同的至少一个物理特性。为了改善对试样(12)的温度(T)进行测量的可靠性和精确性，根据本发明对试样(12)的温度(T)进行测量包括：用电磁激励射线照射试样(12)的第一表面区域，探测由于照射而从试样(12)的第二表面区域发出的热辐射的强度；通过评估探测到的热辐射强度求出试样(12)的热扩散系数(α)；根据求出的热扩散系数(α)在使用说明试样(12)的热扩散系数(α)的与温度相关的走向的数据的情况下求出试样(12)的温度。此外，本发明涉及相应的用于热分析的设备(10)以及用于校准在这种设备(10)中的温度测量装置(22)的方法和设备。
用于试样进行分析温度测量装置校准方法设备

[发明专利]三维扩散率-CN201610068876.9有效
发明人： M-A·塞米特斯;M·布伦纳;J·布卢姆;R·坎贝尔;T·登纳;M·吉普哈德;A·哈廷格尔;T·希尔帕特;S·劳特巴赫;A·林德曼;M·斯乔德尔;A·斯特劳贝尔;J·茨乔佩尔 -专利权人：耐驰-仪器制造有限公司
申请日： 2016-02-01 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：用于测量材料的热扩散率的系统包括具有上部部分和下部部分的壳体，将材料保持在壳体的上部部分与下部部分之间的固定位置中的板，以及在壳体的下部部分处的源，该源将热量沿着垂直于板的第一轴线投射到材料上。在壳体的上部部分处的传感器可相对于板移动并感测沿着垂直于板并从第一轴线偏置的第二轴线辐射通过材料的热量。控制器接收来自传感器的数据并计算该材料的热扩散率。
三维扩散

[发明专利]从智能销售点终端传递信息的方法和系统-CN201280057100.7无效
发明人： E·霍兰德;A·J·凯塞;C·朱宾斯基;N·卡罗尔;A·林德曼 -专利权人：花旗银行全国协会(N.A)
申请日： 2012-10-31 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G06Q20/20 文献下载
摘要：用于从专门编程的智能销售点终端传递信息的方法和系统包括在所述终端处接收交易信息、识别所述交易涉及兑换功能、相应地调整所述交易金额和将所述调整金额的批准请求经由卡协会交易处理网络路由到发卡方处理器。在另一方面，在所述终端处接收信息，所述终端识别所述信息涉及第三方功能，且将消息经由商家收单方处理器路由到所述第三方处理器，同时绕过所述卡协会交易处理网络。其后，所述第三方处理器执行所述第三方功能且将至少部分涉及所述第三方功能的性能的消息经由所述商家收单方处理器返回到所述智能销售点终端处理器。
智能销售点终端传递信息方法系统

[发明专利]用于样品光热研究的设备和方法-CN201310329059.0无效
发明人： M·布鲁纳;J·布卢姆;T·登纳;R·坎贝尔;T·希尔帕特;M·吉普哈德;S·劳特巴赫;A·斯特劳贝尔;J·茨乔佩尔;M·斯乔德尔;A·林德曼;A·哈廷格尔 -专利权人：耐驰-仪器制造有限公司
申请日： 2013-07-31 - 公布日： 2014-02-12 - 主分类号： G01N21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于样品(12)的光热研究的装置(10)，该装置带有用于产生指向样品(12)的激励面的电磁激励射束(18)的激励源(14，20，22)，用于检测由样品(12)的检测面发射出的热辐射(26)的探测器(28)，和温度可控制的样品腔(36)，该样品腔包括容纳在其中的样品保持器(13)，用于样品(12)的放置和温度控制。根据本发明，作出了这样的设置，使得可调节的检测光学系统(32)设置在样品保持器(13)和探测器(28)之间，所述检测光学系统是可调节的，以调节在样品表面上的探测器(28)的期望视域。
用于样品光热研究设备方法

[发明专利]密封的功率半导体组件-CN200480009474.7无效
发明人： A·林德曼 -专利权人： IXYS半导体有限公司
申请日： 2004-04-08 - 公布日： 2006-05-10 - 主分类号： H01L23/31 文献下载
摘要：本发明涉及一种密封的功率半导体组件，包括由绝缘材料(陶瓷)构成的衬底，所述衬底具有由热传导材料，具体地说由金属层的部分表面构成的多个岛(14、17、18、19)。在所述岛上焊接功率半导体芯片(22)。以在其它岛上的焊盘(20、24)的形式或者以配置为印刷导体的引线(28)和岛(14)的形式，产生从所述芯片连接至所述连接部件(10和12)的电连接。密封所述衬底和所述芯片，而所述连接部件(10和12)从所述密封件伸出，并且为了固定在热沉上，露出所述衬底的所述金属下侧。
密封功率半导体组件