专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于对样品进行热分析的装置和方法-CN202310136930.9在审
  • E·福格莱恩;G·纽曼 - 耐驰-仪器制造有限公司
  • 2023-02-20 - 2023-08-25 - G01N25/00
  • 本发明涉及一种样品的热分析,并提出了一种用于对样品进行热分析的装置(10),其具有:样品室(12),用于容纳其上放置有坩埚盖(16)的样品坩埚(14),待分析的样品位于该样品坩埚的内部,其中,样品室(12)具有用于将样品坩埚(14)置入样品室(12)中的室开口(18);温度调节装置(20),用于对样品室(12)进行温度调节;测量装置,用于测量样品的温度和一个或多个其他测量变量;气体引导装置(30、31、32),用于在样品室(12)中产生气体气氛;室盖(40),可放置在样品室(12)的室开口(18)上;配备有针(44)的穿刺装置(42),其适用于当样品坩埚(14)容纳在样品室(12)中且室盖(40)放置在室开口(18)上时,用针(44)在样品坩埚(14)的坩埚盖(16)中穿刺孔。此外在本发明的范围中,提出了对样品进行热分析的相应方法、具有坩埚盖(16)的样品坩埚(14)以及覆盖/穿刺单元(40、42)。
  • 用于样品进行分析装置方法
  • [发明专利]用于对样本进行热分析的测量装置和方法-CN201910484970.6有效
  • A·辛德勒 - 耐驰-仪器制造有限公司
  • 2019-06-05 - 2022-06-17 - G01N25/20
  • 本发明涉及用于对样本(P)进行热分析的测量装置,其具有坩埚(10)以及传感器(20),坩埚用于使样本(P)支承在坩埚(10)中,传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度。为了在这种测量装置以及借助其执行的用于热分析的方法中实现测量的高度可重现性,根据本发明的测量装置具有用于坩埚(10)的防转动保护(19、21),以便在坩埚(10)布置在传感器(20)上时设定坩埚(10)相对于传感器(20)的预定转动位置。此外,本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对样本(P)进行热分析的方法。
  • 用于样本进行分析测量装置方法
  • [发明专利]用于对试样进行热分析的测量装置和方法-CN201910454019.6有效
  • A·辛德勒 - 耐驰-仪器制造有限公司
  • 2019-05-28 - 2022-05-17 - G01N25/20
  • 本发明涉及用于对试样(P)进行热分析的测量装置,其具有坩埚(10)以及传感器(20),坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中,传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险,根据本发明设置成,该测量装置还具有在坩埚(10)和传感器(20)之间加入的垫片组件(30),其具有接触坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30‑1)和接触传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30‑2)。此外,本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对试样(P)进行热分析的方法。
  • 用于试样进行分析测量装置方法
  • [发明专利]热分析设备、样本保持器组件和热分析方法-CN202011020732.9在审
  • 伊东大辅;佐藤健太;高石洋树 - 耐驰-仪器制造有限公司
  • 2020-09-25 - 2021-03-26 - G01N5/00
  • 本公开涉及一种热分析设备、一种样本保持器组件和一种热分析方法,其能够进行DSC测量和TG测量,且简化了发生损坏时对温度传感器等的替换。根据本公开的热分析设备100包括:可拆卸地安装的样本保持器组件110;可拆卸地安装的第一样本台221和第二样本台222;加热样本保持器组件110等的加热器(加热炉20);温度控制器400;用于检测样本和参照物质之间的温度差的温度测量部分300;以及,用于测量样本和参照物质之间的重量差的重量测量部分(天平103)。样本保持器组件110包括:用于在其上放置样本的第一样本保持器121;和用于在其上放置参照物质的第二样本保持器122;以及,散热器123,其通过具有预定热阻的构件分别联接到第一样本保持器121和第二样本保持器122,以测量温度差或重量差。
  • 分析设备样本保持组件方法
  • [发明专利]气体分析装置及气体分析方法-CN202010992523.4在审
  • 佐藤健太;伊东大辅;高石洋树;木下良一 - 耐驰-仪器制造有限公司
  • 2020-09-21 - 2021-03-23 - G01N5/04
  • 一种能够在不进行复杂的控制的情况下以直接模式和收集模式执行测量的气体分析装置和气体分析方法。根据本公开的气体分析装置100包括:对目标气体进行分支的分支部件20;对一分支目标气体进行质谱分析的质谱仪80;对另一分支目标气体进行保持的收集部件60;对由收集部件保持的另一分支目标气体进行分析的色谱仪70;以及,对所述一分支目标气体和所述另一分支目标气体的流路进行控制的控制器50。在通过热分析装置进行热分析时,分支部件20被控制使得连续地分支所供应的目标气体,并排出所述一分支目标气体和所述另一分支目标气体,并且在热分析完成后,将通过收集部件60保持的所述另一支目标气体供应到气相色谱仪70。
  • 气体分析装置方法
  • [发明专利]数据采集系统,实时在线监控工业制造过程的系统和方法-CN202010740792.1在审
  • A·查卢普卡;M·齐尔;B·博安卡;E·莫克赫娜;T·希尔博特;S·波普 - 耐驰-仪器制造有限公司
  • 2020-07-27 - 2021-02-09 - H04L29/08
  • 本申请涉及一种数据采集系统(10),特别是用于介电分析测量,包括:传感器接口(4),其被配置成连接到位于工业制造机器(20)的活动加工区域(23)内的一个或多个传感器(22a;22b);模块处理器(1),其耦合到传感器接口(4)并被配置成从连接到传感器接口(4)的一个或多个传感器(22a;22b)接收测量值;云接口(3),其耦合到模块处理器(1);以及,机器接口(5),其耦合到模块处理器(1)。测量值指明在工业制造机器(20)的活动加工区域(23)中处理的工件的物理特性。云接口(3)被配置成连接到基于云的资源(40),并且,机器接口(5)被配置成连接到工业制造机器(20)的控制装置(21)。模块处理器(1)被配置成经由云接口(3)将来自一个或多个传感器(22a;22b)的接收到的测量值传输到基于云的资源(40),并经由机器接口(5)将制造控制信号传输到工业制造机器(20)的控制装置(21),制造控制信号是基于经由云接口(3)从基于云的资源(40)接收到的参数。
  • 数据采集系统实时在线监控工业制造过程方法
  • [发明专利]在对试样进行热分析时用于校准调温的方法-CN201710851017.1有效
  • M·布鲁纳;A·林德曼 - 耐驰-仪器制造有限公司
  • 2017-09-20 - 2020-07-24 - G01N25/20
  • 本发明涉及用于校准对试样(P1至P4)进行热分析的设备(10)的方法。根据本发明的方法包括:借助设备(10)的光热测量装置(18、20、22)在一个确定的试样上或在多个同种类的试样上进行光热测量,该一个确定的试样为此依次地保持在设备(10)的多个试样保持件(14‑1至14‑4)中并且分别进行光热测量,或多个同种类的试样为此保持在多个保持件(14‑1至14‑4)中的各其中一个中并且分别进行光热测量,其中,在光热测量时分别以电磁激励脉冲照射相关试样的第一侧,并且检测由于激励脉冲而从该试样的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射;比较多个试样保持件(14‑1至14‑4)的光热测量的结果;基于比较结果,为每个试样保持件(14‑1至14‑4)分别得出至少一个修正参数;以及基于得出的修正参数对设备(10)的温度测量装置(26‑1至26‑4)和/或设备(10)的调温装置(16‑1至16‑4)进行校准。
  • 试样进行分析用于校准调温方法

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