专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种自动对正对焦的LIBS系统-CN202011063367.X有效
  • 郭连波;寇卫萍;胡桢麟;汪威良;马浴阳;黄伟华 - 华中科技大学
  • 2020-09-30 - 2021-08-10 - G01N21/71
  • 本发明提供了一种自动对正对焦的LIBS系统,包括:可将待检测样品进行平移和旋转,计算机控制五轴电动位移平台移动直至样品表面在面阵CCD的成像最清晰时,激光恰好聚焦在待检测样品表面,计算机控制五轴电动位移系统将待检测样品移动至样品表面在面阵CCD相机成像最清晰处,即实现自动对正对焦。本发明只需要扫描一次获取待检测样品表面高度数据和一次自动对焦,即可计算出所有位置对正对焦的位点,切换每个烧蚀位点时候,快速将待检测样品表面移动至激光聚焦位置,且保证激光束与样品表面在空间上垂直。本发明可实现表面凹凸不平的样品快速自动对正对焦,保证激光聚焦在样品表面且激光束与待检测样品表面垂直,从而有效提高光谱的信号质量。
  • 一种自动对焦libs系统
  • [实用新型]一种元素与缺陷的激光光声复合非接触检测系统-CN201921399460.0有效
  • 罗为;郭连波;万青;叶晓琦;马浴阳;傅邱云 - 华中科技大学
  • 2019-08-28 - 2020-06-02 - G01N29/04
  • 本实用新型属于激光材料检测领域,公开了一种元素与缺陷的激光光声复合非接触检测系统,包括脉冲激光器、光谱探测单元、超声波探测单元、样品台单元以及分析控制单元,其中,光谱探测单元用于对等离子体发射的可见光光谱进行探测,以获得关于待分析样品中元素的信息;超声波探测单元用于对超声波进行无接触探测,基于干涉仪探测、或高Q值谐振器探测的原理,能够在不接触样品的前提下获得超声信号,得到关于待分析样品中缺陷的信息。本实用新型通过对装置内各个组件的结构及其设置方式等进行改进,采用已知的非接触超声波探测单元对伴随激光激发产生的超声波进行非接触探测,可实现对样品的元素和缺陷同时进行非接触检测与分析。
  • 一种元素缺陷激光复合接触检测系统

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