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[发明专利]一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置及方法-CN202111418143.0有效
发明人：朱赛;项道才;陈梅双;叶畅;崔强;王酣;张强;付君;蔡利花 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06F3/038 文献下载
摘要：本发明公开了一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置，包括由MCU控制芯片、串口转键盘鼠标芯片、USB键盘鼠标转串口芯片、电源供电电路、电磁干扰滤波及防护电路、MicroSD卡存储器、液晶显示模块、矩阵按键模块、实时时钟电路、蜂鸣器电路、键盘鼠标输入接口、键盘鼠标输出接口、金属机壳，本发明为电磁兼容测试和低辐射抗电磁干扰要求情况下模拟键盘鼠标操作开展自动测试、自动控制等全面自动化提供一种有效可行的装置和方法，具有功能全面、数据存储结构合理、低辐射抗电磁干扰的优点。
一种辐射电磁干扰键盘鼠标模拟装置方法

[发明专利]一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法-CN202211099073.1在审
发明人：孙美秋;刘喆;项道才;王酣;蔡利花 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法，该方法包括根据毫米波频段设备的远场测试环境参数和实际工作环境参数分别计算毫米波频段设备在干燥空气和水汽条件下，远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗；根据毫米波频段设备在远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗以及路径长度计算在远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值；根据计算的远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值，进一步计算毫米波频段设备天线谐波乱真辐射发射的大气特征损耗修正因数；根据修正因数及毫米波频段设备在远场测试环境测试得到的天线谐波乱真辐射发射结果计算得出毫米波频段设备的天线谐波乱真辐射发射修正结果。
一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法

[实用新型]一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置-CN202221350806.X有效
发明人：朱赛;陈梅双;项道才;叶畅;陈世钢;崔强;王酣;张强;付君;蔡利花;李志鹏 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。提高了集成电路电磁辐射抗扰度测试的精准度，提升了电磁辐射干扰信号的测试范围，适用性更强。
一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置

[发明专利]用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法-CN202211200536.9在审
发明人：陈梅双;项道才;叶畅;朱赛;付君;王酣;崔强 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路电磁抗扰度测试信号的监测领域，具体涉及一种用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法。本发明通过参考信号生成单元获得参考模拟信号和参考数字信号；通过模拟信号采集单元对集成电路芯片进行电磁兼容测试的被测模拟信号进行采样，并转化为被测数字信号；通过校准单元对参考数字信号进行自校准以及根据采集的被测模拟信号正常状态时的采样值对参考数字信号进行校准；通过模拟信号比较单元和数字信号比较单元两级比较单元，比较被测信号和参考信号，对异常进行判断；通过数字信号分析单元对被测数字信号进行实时监测和分析，自动判定集成电路芯片的抗扰度能力等级。
用于集成电路电磁兼容测试模拟信号监测系统方法

[发明专利]一种基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法-CN202211032020.8在审
发明人：刘喆;叶畅;蔡利花;孙美秋;项道才;王酣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明属于电磁兼容测试领域，具体地说，涉及一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法，该方法可用于替代传统的远场测试法，该方法包括：步骤1)布置紧缩场测试系统；步骤2)配置测试系统的校验路径；步骤3)计算测试系统的空损Lreal；步骤4)将Lreal与理想空损Lideal进行对比，当Lreal与Lideal的差值满足设定值时，进入步骤5)，否则，返回步骤3)；步骤5)配置测试系统的测量路径；步骤6)调节待测EUT天线的指向，保证测试值为最大值；步骤7)计算发射机的基波ERP；步骤8)测量谐波和乱真辐射发射ERP的值，并与基波ERP比较，判断待测EUT天线谐波乱真辐射发射是否满足GJB151B的要求，从而完成测试。
一种基于紧缩天线谐波乱真辐射发射测试方法

[发明专利]一种近场聚焦透镜天线的设计方法及近场聚焦透镜天线-CN202211032014.2在审
发明人：刘喆;陈政宇;项道才;王酣 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： H01Q13/02 文献下载
摘要：本发明属于天线领域，具体地说，涉及一种制备用于成像的近场聚焦透镜天线的方法及一种近场聚焦透镜天线，该近场聚焦透镜天线包括：光滑内壁矩形喇叭天线(1)、近场聚焦透镜(2)、固定装置(3)；该方法包括：步骤1)计算喇叭天线的参数；步骤2)计算近场聚焦透镜的外部参数；步骤3)计算近场聚焦透镜的内部参数，并对得到的近场聚焦透镜天线进行公差分析与计算；步骤4)计算近场聚焦透镜天线的近场增益，以近场聚焦3dB直径作为分辨率的值，判断分辨率的计算结果是否符合设计要求；步骤5)仿真计算固定装置对透镜天线的力学和电学性能的影响，判断影响程度是否在可接受的范围内。
一种近场聚焦透镜天线设计方法

[发明专利]一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置及方法-CN202210626148.0在审
发明人：陈梅双;朱赛;项道才;叶畅;崔强;王酣;陈世钢;付君;蔡利花;刘喆;李志鹏;陈政宇 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-06-02 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置及方法，包括：对受试IC无电磁干扰工作状态下的第一反馈信号进行采样并进行数据分析，装置根据数据分析结果与装置内预设的IC类型进行比对，识别出受试IC的类型，装置根据受试IC类型对应的预设方式对第一反馈信号进行自适应学习，并得到学习结果数据，装置根据学习结果数据确定受试IC的预设测试项，再对受试IC电磁兼容测试时的第二反馈信号进行采样，并将第二阶段的测试反馈信号与预设测试项和预设测试标准进行实时对比分析，判断受试IC的工作状态是否正常，若判断为否，则发出报警提示。与现有技术相比，本发明的监测结果准确、稳定性和适用性更强、监测范围更全面、智能化程度更高。
一种用于集成电路电磁兼容测试监视辅助装置方法

[发明专利]一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法-CN202210614203.4在审
发明人：朱赛;陈梅双;项道才;叶畅;陈世钢;崔强;王酣;张强;付君;蔡利花;李志鹏 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆或波导传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。提高了集成电路电磁辐射抗扰度测试的精准度，提升了电磁辐射干扰信号的测试范围，适用性更强。
一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置使用方法

[发明专利]一种制备太赫兹双远心透镜天线组的方法及透镜天线组-CN202011262125.3有效
发明人：刘喆;项道才;沙长涛 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2020-11-12 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明属于太赫兹波成像天线技术领域，具体地说，涉及一种制备太赫兹双远心透镜天线组的方法，包括：步骤1)获取太赫兹双远心透镜天线组所需要的外部参数；步骤2)获取太赫兹双远心透镜天线组的初始内部参数；步骤3)对太赫兹双远心透镜天线组进行优化，获得优化后的太赫兹双远心透镜天线；步骤4)初步判断太赫兹双远心透镜天线组的远心度和像平面光斑半径；步骤5)利用蒙特卡洛法，对步骤4)得到的太赫兹双远心透镜天线组进行公差调整；步骤6)根据获得的近场增益曲线图，获得像平面的光斑半径束，并判断像平面的光斑半径束是否合格。
一种制备赫兹双远心透镜天线方法

[发明专利]一种制备太赫兹透镜喇叭天线的方法-CN202111013252.4在审
发明人：刘喆;项道才;王酣;沙长涛 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： H01Q13/02 文献下载
摘要：本发明属于太赫兹波通信天线技术领域，具体地说，涉及一种制备太赫兹透镜喇叭天线的方法，该太赫兹透镜喇叭天线包括：喇叭天线(1)和太赫兹透镜(2)；将太赫兹透镜(2)覆盖在喇叭天线(1)的喇叭开口处，且二者为一体式结构，不可拆卸；该方法包括：步骤1)计算喇叭天线的参数；步骤2)计算太赫兹透镜的外部参数；步骤3)计算太赫兹透镜的内部参数；步骤4)根据步骤1)‑步骤3)的结果，得到太赫兹透镜喇叭天线，利用蒙特卡洛法，对得到的太赫兹透镜喇叭天线进行公差调整；步骤5)利用口径场积分法，计算透镜喇叭天线的远场增益，并判断计算结果是否符合要求。
一种制备赫兹透镜喇叭天线方法

[实用新型]电源线传导敏感度测试系统-CN202120442466.2有效
发明人：叶畅;付君;项道才;杨立茂;朱赛;王凯 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2021-03-01 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种电源线传导敏感度测试系统，属于电磁兼容测试技术领域，该系统包括：电源线输入端口和电源线输出端口；10μF电容，用于连接在高电位线和回线之间；耦合变压器，所述耦合变压器的第一端与所述高电位线连接，所述耦合变压器的第二端与电源线输出端口连接；切换开关，所述切换开关的第一端与所述耦合变压器的第一端连接，所述切换开关的第二端与所述电源线输出端口连接；骚扰信号输入端口，所述骚扰信号输入端口与所述耦合变压器连接，用于向所述耦合变压器中输入干扰信号；检测端口，所述检测端口与所述耦合变压器连接，用于对耦合变压器中的电源信号进行检测。通过本系统，提高了电磁兼容电源线传导敏感度测试的效率。
电源线传导敏感度测试系统

[发明专利]一种基于信号特征计算的滤波器件抑制作用评估方法-CN202010786882.4在审
发明人：叶畅;沙长涛;项道才;张强;朱赛;付君;蔡利花;王凯 -专利权人：中国电子技术标准化研究院
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种基于信号特征计算的滤波器件抑制作用评估方法，涉及信号测试技术领域，该方法包括：获取待进行评估的输入信号以及所述输入信号通过滤波器件后产生的畸变信号；分别计算所述输入信号和所述畸变信号在时域范围上波形的最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性；基于所述输入信号和所述畸变信号在最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性上的比值，形成骚扰相似度计算公式；基于所述骚扰相似度计算公式得到的计算结果，对所述滤波器件的抑制作用进行评估。通过本发明实施例的方案，能通过量化的方式对滤波器件的抑制作用进行评估。
一种基于信号特征计算滤波器件抑制作用评估方法

[实用新型]半导体器件测试系统脉冲大电流幅度校准装置-CN201120278722.5有效
发明人：刘冲;于利红;江莹;项道才 -专利权人：刘冲;于利红
申请日： 2011-08-03 - 公布日： 2012-05-02 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种半导体器件测试系统脉冲大电流幅度校准装置，其组成部分包括：NI PXI-1042主控机箱，NI PXI-4071高速数据采集单元、TDS320数字示波器、半导体器件测试系统专用测试适配器。目前能够解决通信领域内半导体器件测试系统脉冲大电流源幅度的校准。
半导体器件测试系统脉冲电流幅度校准装置

[实用新型]直流电子负载动态负载模式参数校准装置-CN201120278724.4有效
发明人：于利红;刘冲;江莹;项道才 -专利权人：于利红;刘冲
申请日： 2011-08-03 - 公布日： 2012-04-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种直流电子负载动态负载模式参数校准装置，该校准装置的组成部分包括：直流稳定电源、电流探头、数字示波器和数字多用表，其特征是：电流探头可以将被测的瞬时或连续的梯形波高电流信号转换成电压波形，通过数字示波器测量其负载电流波形时间和负载波形频率参数，目前能够解决通信领域内直流电子负载动态负载模式下参数的校准问题。
直流电子负载动态负载模式参数校准装置

[发明专利]一种直流电子负载动态负载模式参数校准方法-CN201110220040.3在审
发明人：于利红;刘冲;项道才;江莹 -专利权人：于利红;刘冲
申请日： 2011-08-03 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种直流电子负载动态负载模式参数校准方法，其组成部分包括：直流稳定电源、数字示波器、电流探头、数字多用表。本发明通过电流探头将直流电子负载的大电流负载信号转换为低电压信号，通过数字示波器和数字多用表对负载电流转换时间和波形负载频率参数进行校准。目前能够解决通信领域内直流电子负载动态负载模式参数的校准。
一种直流电子负载动态负载模式参数校准方法

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